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技術(shù)文章
X射線(xiàn)熒光光譜法檢測(cè)原理
點(diǎn)擊次數(shù)：688 發(fā)布時(shí)間：2014-11-30
當(dāng)照射原子核的X射線(xiàn)能量與原子核的內(nèi)層電子的能量在同一數(shù)量級(jí)時(shí)，核的內(nèi)層電子共振吸收射線(xiàn)的輻射能量后發(fā)生躍遷，而在內(nèi)層電子軌道上留下一個(gè)空穴，處于高能態(tài)的外層電子跳回低能態(tài)的空穴，將過(guò)剩的能量以X射線(xiàn)的形式放出，所產(chǎn)生的X射線(xiàn)即為代表各元素特征的X射線(xiàn)熒光譜線(xiàn)。其能量等于原子內(nèi)殼層電子的能級(jí)差，即原子特定的電子層間躍遷能量。只要測(cè)出一系列X射線(xiàn)熒光譜線(xiàn)的波長(zhǎng)，即能確定元素的種類(lèi);測(cè)得譜線(xiàn)強(qiáng)度并與標(biāo)準(zhǔn)樣品比較，即可確定該元素的含量。由此建立了X射線(xiàn)熒光光譜 （XRF）分析法。
是介于原子發(fā)射光譜（AES）和原子吸收光譜（AAS）之間的光譜分析技術(shù)。它的基本原理是基態(tài)原子（一般蒸汽狀態(tài)）吸收合適的特定頻率的輻射而被激發(fā)至高能態(tài)，而后激發(fā)過(guò)程中以光輻射的形式發(fā)射出特征波長(zhǎng)的熒光。說(shuō)明:測(cè)量待測(cè)元素的原子蒸氣在一定波長(zhǎng)的輻射能激發(fā)下發(fā)射的熒光強(qiáng)度進(jìn)行定量分析的方法。原子熒光的波長(zhǎng)在紫外、可見(jiàn)光區(qū)。氣態(tài)自由原子吸收特征波長(zhǎng)的輻射后，原子的外層電子從基態(tài)或低能態(tài)躍遷到高能態(tài)，約經(jīng)10-8秒，又躍遷至基態(tài)或低能態(tài)，同時(shí)發(fā)射出熒光。若原子熒光的波長(zhǎng)與吸收線(xiàn)波長(zhǎng)相同，稱(chēng)為共振熒光；若不同，則稱(chēng)為非共振熒光。共振熒光強(qiáng)度大，分析中應(yīng)用zui多。在一定條件下，共振熒光強(qiáng)度與樣品中某元素濃度成正比。該法的優(yōu)點(diǎn)是靈敏度高 ,譜線(xiàn)簡(jiǎn)單；在低濃度時(shí)校準(zhǔn)曲線(xiàn)的線(xiàn)性范圍寬達(dá)3~5個(gè)數(shù)量級(jí)，特別是用激光做激發(fā)光源時(shí)更佳。主要用于金屬元素的測(cè)定，在環(huán)境科學(xué)、高純物質(zhì)、礦物、水質(zhì)監(jiān)控、生物制品和醫(yī)學(xué)分析等方面有廣泛的應(yīng)用。