您所在位置：產(chǎn)品搜索
請輸入產(chǎn)品關(guān)鍵字：
暫無信息 |
聯(lián)系方式
地址：寧波市江東區(qū)民安路822號
郵編：201109
聯(lián)系人：應(yīng)慈平
留言：在線留言
商鋪：http://www.lcfedrb.net.cn/company_b001123/
郵編：201109
聯(lián)系人：應(yīng)慈平
留言：在線留言
商鋪：http://www.lcfedrb.net.cn/company_b001123/
技術(shù)文章
薄膜電導(dǎo)TOC檢測技術(shù)
點擊次數(shù)：1576 發(fā)布時間：2014-11-30
Sievers 薄膜電導(dǎo)率檢測技術(shù)用于檢測總有機碳（TOC）含量，并被證明為十分可靠的檢測方法。不同于非分散紅外檢測（NDIR—non-dispersive infrared）技術(shù)，電導(dǎo)率檢測法數(shù)值相對穩(wěn)定，也不會隨著時間的變化有明顯的漂移。因此使用薄膜電導(dǎo)率檢測技術(shù)，設(shè)備無需經(jīng)常校準(zhǔn)，所得到的檢測結(jié)果也十分穩(wěn)定。
Sievers薄膜電導(dǎo)率檢測技術(shù)使用了選擇性氣體滲透薄膜，只有氧化產(chǎn)生的CO2能通過這層薄膜進入檢測艙。從而防止酸、堿和含鹵素等雜原子化合物的干擾，因此相比直接電導(dǎo)率法，Sievers薄膜電導(dǎo)率檢測法減少了檢測中的“假正“現(xiàn)象，提供了無比優(yōu)異的選擇性、靈敏度、穩(wěn)定性、度和準(zhǔn)確度。