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技術(shù)文章
頂空技術(shù)的分類
點(diǎn)擊次數(shù)：330 發(fā)布時(shí)間：2014-11-30
頂空技術(shù)的分類
頂空技術(shù)依據(jù)其不同的取樣和進(jìn)樣方式可分為：
靜態(tài)頂空：將樣品放置在一密閉容器中，在一定溫度下放置一段時(shí)間使氣液兩相達(dá)到平衡，取氣相部分進(jìn)入GC分析，有稱平衡頂空或者一次氣相萃取。
動(dòng)態(tài)頂空：在樣品中連續(xù)通入惰性氣體，揮發(fā)性組分即隨該萃取氣體中樣品中溢出，然后通過(guò)一個(gè)吸附裝置（補(bǔ)集器）將樣品濃縮，zui后再將樣品解吸進(jìn)入氣譜分析。這是一種連續(xù)的多次氣相萃取，直到樣品中的揮發(fā)性組分*萃取出來(lái)
方法優(yōu)點(diǎn)缺點(diǎn)
靜態(tài)頂空
1、樣品基質(zhì)（如水）的干擾極小
2、儀器較簡(jiǎn)單，不需要吸附裝置
3、揮發(fā)性樣品組分不會(huì)丟失
1、靈敏度稍低
2、難以分析較高沸點(diǎn)的樣品
動(dòng)態(tài)頂空1、可將揮發(fā)性組分全部萃取出來(lái)，并在捕集裝置中濃縮后分析
2、靈敏度較高
3、比靜態(tài)頂空應(yīng)用范圍更廣，使 用于沸點(diǎn)較高的組分1、樣品基質(zhì)可能干擾分析
2、儀器較復(fù)雜
3、吸附和解吸可能造成樣 品組分的丟失