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淺談納米粒度及zeta電位儀原理及功能認識

閱讀:521      發(fā)布時間:2024-3-11
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納米粒度及zeta粒度儀是一種用于測量納米材料電位和粒度分布的重要儀器。其原理基于電泳或電滲原理,通過測量納米顆粒在電場作用下的移動行為,來獲得其電位和粒度信息。

目前海鑫瑞科技的納米粒度及zeta粒度儀不僅可以得到粒度、電位的數(shù)據之外,還可以得到分子量、溫度/時間趨勢、以及隨著溶液PH的變化電位的變化數(shù)據等,一機多用的科研好

幫手


  首先,讓我們了解一下粒度測量原理 


納米粒度及zeta粒度儀則是基于光散射原理進行測量。當一束激光照射在納米顆粒上時,光的散射角度與顆粒的大小有關。通過測量散射角度,可以得到顆粒的粒度分布情況。


    其次是電位測量原理

  在Zeta電位納米粒度儀中,通常使用電泳光散射法來同時測量納米顆粒的電位和粒度。在電場作用下,通過測量納米顆粒的電泳速度和光散射強度,可以推算出其電位值和

粒度

分布。這種方法既具有高靈敏度,又能夠快速分析大量樣本。


  此外,Zeta電位納米粒度儀還具有非侵入性測量的優(yōu)勢,無需操作者與樣品接觸,避免了污染和干擾,確保了測量結果的準確性和可靠性。


  總的來說,納米粒度及zeta粒度儀的原理是結合電泳和光散射技術,通過測量納米顆粒在電場作用下的運動行為和光散射特性,來獲得其電位和粒度信息。這種儀器在納米

材料的研究和開發(fā)中具有重要的應用價值,為材料科學、環(huán)境保護和生物醫(yī)學等領域的研究提供了有力支持。

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