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2013全國(guó)表面分析科學(xué)會(huì)議上的儀器廠商
點(diǎn)擊次數(shù)：389 發(fā)布時(shí)間：2014-11-13
2013 年8 月20，“2013 全國(guó)表面分析科學(xué)與技術(shù)應(yīng)用學(xué)術(shù)會(huì)議暨表面分析國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)宣貫及X 射線光電子能譜（XPS）研修班”在北京舉行。100余名從事表面分析技術(shù)研究與應(yīng)用的研究人員參加了此次會(huì)議。
本次會(huì)議由高校分析測(cè)試中心研究會(huì)、全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)表面分析分技術(shù)委員會(huì)主辦，國(guó)家大型科學(xué)儀器中心-北京電子能譜中心、北京師范大學(xué)分析測(cè)試中心和北京大學(xué)分析測(cè)試中心共同承辦。
表面分析儀器的主要供應(yīng)商均參加了此次會(huì)議。賽黙飛世爾科技（中國(guó)）有限公司、島津企業(yè)管理（中國(guó)）有限公司、高德英特（北京）科技有限公司（代理日本ULVAC-PHI產(chǎn)品）、北京艾飛拓科技有限公司（代理德國(guó)ION TOF公司產(chǎn)品）、北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司等分別在會(huì)議中就本公司的產(chǎn)品和技術(shù)作了主題報(bào)告。
報(bào)告人：賽黙飛世爾科技（中國(guó)）有限公司Richard G.White
報(bào)告題目：Recent advances in XPS instrumentation from Thermo Fisher Scientific
報(bào)告人：島津企業(yè)管理（中國(guó)）有限公司龔沿東
報(bào)告題目：高靈敏XPS—Axis Ultra DLD 檢測(cè)器在采譜和成像方面的應(yīng)用
報(bào)告人：高德英特（北京）科技有限公司陳文徵
報(bào)告題目：PHI 公司在表面分析技術(shù)中的新進(jìn)展
報(bào)告人：北京艾飛拓科技有限公司高聚寧
報(bào)告題目：飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜進(jìn)展和應(yīng)用
報(bào)告人：北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司鐘家湘
報(bào)告題目：多孔粉體材料表面特性的表證與測(cè)試
另外，此次會(huì)議中賽默飛還特別設(shè)置了展位，并贊助了本次大會(huì)的歡迎晚宴。
賽默飛展位
賽默飛化學(xué)分析部運(yùn)營(yíng)總監(jiān)兼表面分析部門胡翔宇在晚宴中致辭
歡迎晚宴現(xiàn)場(chǎng)
有關(guān)本次會(huì)議的主題報(bào)告及產(chǎn)品和技術(shù)進(jìn)展，敬請(qǐng)關(guān)注后續(xù)報(bào)道