紫外老化試驗(yàn)箱無(wú)法進(jìn)行低溫試驗(yàn)的主要原因包括以下幾個(gè)方面：
制冷系統(tǒng)故障：制冷系統(tǒng)是控制低溫的關(guān)鍵部分，可能存在制冷劑泄漏、壓縮機(jī)故障、冷凝器堵塞等問(wèn)題，影響制冷效果。
溫度控制器問(wèn)題：溫度控制器可能出現(xiàn)故障或校準(zhǔn)不準(zhǔn)確，導(dǎo)致無(wú)法正確控制低溫。
絕緣問(wèn)題：模擬箱高低溫試驗(yàn)箱的絕緣性能不佳，可能導(dǎo)致熱量散失過(guò)快，難以達(dá)到低溫。
門密封不良：門密封不嚴(yán)密會(huì)導(dǎo)致箱內(nèi)溫度泄漏，影響低溫的維持。
負(fù)載過(guò)多：高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)放置的樣品過(guò)多或過(guò)大，可能影響空氣循環(huán)和制冷效果。
環(huán)境條件：周圍環(huán)境溫度過(guò)高或通風(fēng)不良可能影響制冷能力
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