高溫鐵電測試儀可以測量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開關特性等性能的測試，能夠較全面準確地測量鐵電薄膜的鐵電性能。目前該系統(tǒng)測量溫度800°C,可配置薄膜和塊體測量夾具，可廣泛應用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲器等領域的研究。
高溫鐵電測試儀測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標和校準，并且能實現(xiàn)較高的測量準確度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較全面準確地測量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設計，實現(xiàn)測試結果全數字化，操作簡單方便。
高溫鐵電測試儀應用領域
1.鐵電材料的電滯回線（動態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。
2.測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。
3.超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。
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