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                               粒度：顆粒的大小稱為粒度，通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長表示。粒徑是顆粒的直徑。然而實際中的顆粒大多是不規(guī)則的，所以，為了更方便的描述顆粒的大小，在實際測算中，將不規(guī)則的顆粒等效為規(guī)則球，并以其直徑作為顆粒的粒度。這就是“等效圓球理論"。

粒度的測量方法有很多，今天重點給大家介紹顯微鏡圖像法：

顯微鏡圖像法能同時觀察顆粒的形貌及直觀地對顆粒的幾何尺寸進行測量，經(jīng)常被用來作為對其他測量方法的一種校驗或標定。該類儀器由顯微鏡、CCD 攝像頭(或數(shù)碼相機)、圖形采集卡、計算機(圖像分析儀)等部分組成。

它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接嬎銠C中，由計算機對這些圖像進行邊緣識別等處理，計算出每個顆粒的投影面積，根據(jù)等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑，再統(tǒng)計出所設定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量，就可以得到粒度分布。

顆粒圖像法有靜態(tài)、動態(tài)兩種測試方法：
靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng)，配合高清晰攝像機，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上，配合相關的計算機軟件可進行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計算。
動態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷。

優(yōu)點：可以直接觀察顆粒的形貌，可以地得到球型度、長徑比等特殊數(shù)據(jù)，適合分布窄（和小粒徑的比值小于10：1）的樣品。
缺點：器材價格昂貴，試樣制備繁瑣，代表性差，操作復雜，速度慢，不宜分析粒度范圍寬的樣品，無法分析小于1微米的樣品，顯微鏡或電鏡不適合用于產(chǎn)品的質(zhì)量控制，但可作為一個非常有價值的輔助手段，與激光衍射法或動態(tài)光散射法相結(jié)合來進行顆粒表征。