NIST SRM 1979 粉末衍射線輪廓標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 1979 粉末衍射線輪廓標(biāo)準(zhǔn)品旨在通過(guò)粉末衍射實(shí)驗(yàn)中的輪廓展寬程度來(lái)分析微晶尺寸。
NIST SRM 1878b 可吸入阿爾法石英標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 1878b 可吸入阿爾法石英標(biāo)準(zhǔn)品適用于按照國(guó)家職業(yè)安全與安全研究所(NIOSH)分析方法7500或同等標(biāo)準(zhǔn)編制a-石英X射線粉末衍射定量分析...
NIST SRM 1980陽(yáng)性電泳遷移率(+µE)標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 1980陽(yáng)性電泳遷移率(+µE)標(biāo)準(zhǔn)品旨在用于評(píng)估設(shè)備和驗(yàn)證用于測(cè)量電泳遷移率的方法。
NIST SRM 1982 熱噴涂粉末標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 1982 熱噴涂粉末標(biāo)準(zhǔn)品主要用于校準(zhǔn)用于測(cè)量 10 μm 至 150 μm 范圍內(nèi)的粒度分布 (PSD) 的設(shè)備。
NIST SRM 1984 熱噴涂粉末標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 1984 熱噴涂粉末標(biāo)準(zhǔn)品主要用于校準(zhǔn)用于測(cè)量 9 µm 至 30 µm 范圍內(nèi)的粒度分布 (PSD) 的設(shè)備。
NIST SRM 1985 熱噴涂粉末標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 1985 熱噴涂粉末標(biāo)準(zhǔn)品主要用于校準(zhǔn)用于測(cè)量 18 µm 至 55 µm 范圍內(nèi)的粒度分布 (PSD) 的設(shè)備。
NIST SRM 1990 單晶衍射儀對(duì)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 1990 單晶衍射儀對(duì)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品主要用作單晶衍射的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。
NIST SRM 1991 二氯甲烷中混合煤焦油標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 1991 二氯甲烷中混合煤焦油標(biāo)準(zhǔn)品旨在用于評(píng)估確定選定多環(huán)芳烴 (PAH) 的分析方法
NIST SRM1992 Zeta電位-膠體二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM1992 Zeta電位-膠體二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)品旨在評(píng)估用于測(cè)量 zeta 電位和電泳遷移率的儀器和/或方法的性能。
NIST SRM1993 Zeta電位-膠體二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM1993 Zeta電位-膠體二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)品旨在評(píng)估用于測(cè)量 zeta 電位和電泳遷移率的儀器和/或方法的性能。
NIST SRM2031c 熔石英中性密度濾光片標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM2031c 熔石英中性密度濾光片標(biāo)準(zhǔn)品旨在用于驗(yàn)證分光光度計(jì)在紫外和可見(jiàn)光譜區(qū)域的透射率和吸光度標(biāo)度。
NIST SRM 2034 氧化鈥溶液波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2034 氧化鈥溶液波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品是一種經(jīng)過(guò)認(rèn)證的轉(zhuǎn)移標(biāo)準(zhǔn)，用于驗(yàn)證和校準(zhǔn)標(biāo)稱(chēng)光譜帶寬不超過(guò) 3 nm 的紫外和可見(jiàn)吸收分光光度計(jì)的波長(zhǎng)范圍。
NIST SRM2035b 紫外可見(jiàn)光近紅外波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM2035b 紫外可見(jiàn)光近紅外波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)品是一種經(jīng)過(guò)認(rèn)證的轉(zhuǎn)移標(biāo)準(zhǔn)，用于驗(yàn)證和校準(zhǔn)在透射模式下運(yùn)行的紫外可見(jiàn) (UV-Vis) 和近紅外 (NIR)...
NIST SRM 2036 近紅外波長(zhǎng)/波數(shù)反射標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2036 近紅外波長(zhǎng)/波數(shù)反射標(biāo)準(zhǔn)品是一種經(jīng)過(guò)認(rèn)證的傳輸標(biāo)準(zhǔn)，旨在驗(yàn)證和校準(zhǔn)在漫反射模式下運(yùn)行的波長(zhǎng) (λ) 和波數(shù) (ν) 尺度近紅外 (N...
NIST SRM 2061用于微量分析的iAl合金標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2061用于微量分析的iAl合金標(biāo)準(zhǔn)品于對(duì)航空部件和具有類(lèi)似基質(zhì)的材料中的鈦 (Ti) 和鋁 (Al) 進(jìn)行微量分析。
NIST SRM 2066 K-411玻璃微球標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2066 K-411玻璃微球標(biāo)準(zhǔn)品旨在用作顆粒定量微量分析和開(kāi)發(fā)顆?；|(zhì)校正程序的標(biāo)準(zhǔn)。
NIST SRM 2074 正弦粗糙度試樣標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2074 正弦粗糙度試樣標(biāo)準(zhǔn)品是一種正弦輪廓粗糙度樣品，經(jīng)過(guò)平均粗糙度 Ra 和表面空間波長(zhǎng) D 認(rèn)證
NIST SRM 2092 低能夏比V型缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2092 低能夏比V型缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)品提供的認(rèn)證值主要用于驗(yàn)證配備 8 毫米撞針的夏比機(jī)器，符合當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前 I...
NIST SRM 2093 低能夏比V型缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2093 低能夏比V型缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)品旨在根據(jù)當(dāng)前的 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前的 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備 8 ...
NIST SRM 2096 高能夏比V型缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2096 高能夏比V型缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)品提供的認(rèn)證值主要用于驗(yàn)證配備 8 毫米撞針的夏比機(jī)器，符合當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前 I...
NIST SRM 2097 高能夏比V型缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2097 高能夏比V型缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)品旨在根據(jù)當(dāng)前的 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前的 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備 8 ...
NIST SRM 2098 超高能夏比V型缺口標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2098 超高能夏比V型缺口標(biāo)準(zhǔn)品旨在根據(jù)當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備 8 mm ...
NIST SRM 2100a 陶瓷斷裂韌性標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2100a 陶瓷斷裂韌性標(biāo)準(zhǔn)品旨在驗(yàn)證斷裂韌性測(cè)試程序。由一組五個(gè)熱壓氮化硅彎曲試樣組成
NIST SRM 2100b 陶瓷斷裂韌性標(biāo)準(zhǔn)品 參考價(jià)：面議
NIST SRM 2100b 陶瓷斷裂韌性標(biāo)準(zhǔn)品旨在驗(yàn)證斷裂韌性測(cè)試程序。由一組五個(gè)熱壓氮化硅彎曲試樣組成(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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