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低溫試驗(yàn)箱GB 2423.1-89標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)述
點(diǎn)擊次數(shù):571 發(fā)布時(shí)間:2014-10-28
GB 2423.1—89代替GB 2423.1—81標(biāo)準(zhǔn).本標(biāo)準(zhǔn)等效采用標(biāo)準(zhǔn)IEC68—2—1《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:寒冷》(1974年版)及其*次補(bǔ)充文件IEC 68—2—1A(1978)。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法。適用于非散熱和散熱的電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)有低溫試驗(yàn)。
GB 2423.1-89標(biāo)準(zhǔn)用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存(或)使用的適應(yīng)性。而不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力,這時(shí)應(yīng)當(dāng)采用GB 2423.22《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》。本試驗(yàn)方法通常用在條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫試穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)時(shí),是將具有室溫的試驗(yàn)樣品投入試驗(yàn)。當(dāng)試驗(yàn)樣品實(shí)際上是和某種特定的安裝架一起使用時(shí),則試驗(yàn)時(shí)就應(yīng)使用這些安裝架。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品達(dá)溫度穩(wěn)定時(shí)開始計(jì)算;特殊情況下,如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定,則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱達(dá)到規(guī)定溫度試驗(yàn)時(shí)開始計(jì)算。
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