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電子產(chǎn)品試驗(yàn)方法所需高低溫箱的檢定標(biāo)準(zhǔn)
- 點(diǎn)擊次數(shù)：662 發(fā)布時(shí)間：2014-11-9
電子產(chǎn)品試驗(yàn)方法所需的檢定標(biāo)準(zhǔn)
| 試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn) | 檢定方法標(biāo)準(zhǔn) | ||
| 代號(hào) | 名稱 | 代號(hào) | 名稱 |
| GB2423.1 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 | GB5170.2 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB2423.1 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 | ||
| GB2423.22 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法 | ||
| GB2423.3 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱 | GB5170.5 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 |
| GB2423.4 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱 | ||
| GB2423.9 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱 | ||
| GB2423.16 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉 | ||
| GB2423.17 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 | GB5170.8 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 |
| GB2423.18 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb：交變鹽霧 | ||
| GB2423.19 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn) | GB5170.11 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 |
| GB2423.20 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 Kd：接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法 | ||
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