觸控面板高低溫溫度及沖擊試驗(yàn)記錄

點(diǎn)擊次數(shù)：146 發(fā)布時(shí)間：2014-12-16

觸控面板高低溫溫度及沖擊試驗(yàn)記錄

觸控面板是一種可以取代計(jì)算機(jī)鍵盤及鼠標(biāo)，不要用復(fù)雜的程序即可在計(jì)算機(jī)熒幕上直接用手指或筆以觸碰方式輸入指令的透明熒幕。

試驗(yàn)記錄：

高溫試驗(yàn)-1 ：  

70℃/40～50%R.H.120小時(shí)試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫試驗(yàn)-2：

70℃240小時(shí)試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫試驗(yàn)-3：

80℃1000小時(shí)試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

低溫試驗(yàn)-1：

-20℃120 小時(shí)試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

低溫試驗(yàn)-2：

-20℃240 小時(shí)試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

低溫試驗(yàn)-3：

-40℃1000小時(shí)試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫高濕試驗(yàn)：

60℃/90～95%R.H.-96小時(shí)(必須沒有水凝結(jié)于待測(cè)品)，然后離開至室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試(絕緣阻抗值必須要有1MΩ數(shù)值)，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫高濕試驗(yàn)：

60℃/90%RH120小時(shí)試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次高溫高濕試驗(yàn)：

70℃/90%RH1000小時(shí)試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫高濕試驗(yàn)-460℃/95%RH-240小時(shí)，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

冷熱沖擊試驗(yàn)-1

-20℃(30分鐘)

↓

70℃(30分鐘)-10 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

冷熱沖擊試驗(yàn)-2

-20℃(30分鐘)

↓

80℃(30分鐘)-10 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

冷熱沖擊試驗(yàn)-3

-20℃(1小時(shí))

↓

80℃(1小時(shí))-10 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

冷熱沖擊試驗(yàn)-4-40℃(30分鐘)

↓

80℃(30分鐘)-100 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

本公司專業(yè)生產(chǎn)觸控面板高溫試驗(yàn)箱,觸控面板低溫試驗(yàn)箱,觸控面板高低溫試驗(yàn)箱,觸控面板高溫高濕試驗(yàn)箱,LCD觸控板濕熱老化試驗(yàn)箱,觸控屏冷熱沖擊試驗(yàn)箱,觸控屏幕高低溫沖擊試驗(yàn)箱,LCD屏幕蒸汽老化試驗(yàn)箱,觸控面板壽命試驗(yàn)機(jī)等。