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貝克曼庫爾特商貿(mào)(中國)...

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表征固液介面穩(wěn)定性的新方法-固液介面Zeta電位

閱讀:740      發(fā)布時間:2016-8-27
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方案優(yōu)勢:貝克曼庫爾特公司非常重視市場的多樣化要求。無論是工廠的品質(zhì)控制或是研究機構(gòu)的精密測量,會因樣品特點的不同、測量目的的不同,而對分析儀器的功能提出各異的要求。多功能化、差異化和智能化是貝克曼庫爾特公司產(chǎn)品滿足市場需求的重要特點。 一直以來市面上的Zeta電位分析儀只適合分析在液體中的顆粒體系(或膠體體系),對顆粒的大小有限制。片狀、塊狀固體及較大顆粒無法分析。 DelsaNano C/Solid 應(yīng)用創(chuàng)新的平面樣品池技術(shù),以描述固體(或薄膜)與液體介面的特征,如附著力、穩(wěn)定性、吸附性等,開發(fā)了新的應(yīng)用-----固液介面Zeta電位。 貝克曼庫爾特公司的 固體及薄膜表面Zeta電位分析儀,型號:DelsaNano C/Solid Surface,是*臺應(yīng)用電泳光散射原理,通過測量探測粒子在電場中的運動特征而求得固體(或薄膜)與液體之介面Zeta電位的分析儀。該儀器的上市為固液介面特性的表征提供了一個全新的方法。開拓了一個可探索的包括薄膜、纖維等固體表面研究的新領(lǐng)域。

電泳光散射固體及薄膜Zeta電位分布分析儀

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