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方案優(yōu)勢：Zeta 電位測量 對于液體中的小顆粒，沒有令人滿意的技術(shù)能夠測定顆粒的表面電荷。習慣作法是在遠離微粒表面，在分。。。。 在測定懸浮顆粒的zeta 電位的三種現(xiàn)有方法中，即：電泳光散射(ELS)、聲學的和電聲學，由于其靈敏度、度和通用性，ELS 到目前為止是很多應用的*選擇(Ware 和Haas，1983，第八章;Xu 和Smart，1996;Xu，Wu，和Xu，2007)。然而，使用透射光和以較小角度(典型地是8-30°)接收散射的典型ELS不能用于混濁的樣品，因為入射光不能穿透樣品。 不像粒度或分子量，zeta 電位是一種特性，不僅涉及微粒，而且涉及微粒的環(huán)境，例如：pH 值、離子強度，甚至懸浮液中離子的類型。因此，在很多情況下，即使在稀釋之后測量了懸浮顆粒的zeta 電位以產(chǎn)生出高分辨率和高度的結(jié)果，這些結(jié)果仍然與原始環(huán)境中的真值有很大的差別，并且可能具有很小的實際的實用性或者甚至會誤導用戶。 測量一個濃縮懸浮液中的zeta 電位分布是一項技術(shù)挑戰(zhàn)。只要固體濃度已知，聲學法便只能產(chǎn)生具有低靈敏度的平均值。不能采用在粒度測量中使用的反向散射方法，這是由于在大散射角時布朗運動會干擾定向的電泳運動。例如：對于一個zeta 電位為60 毫伏的250納米的顆粒，當它遭受到一個30 伏的電場時，電泳運動將產(chǎn)生一個55 赫茲的多普勒頻移，散射角為10°，該顆粒的布朗運動將造成一個3.5 赫茲的峰加寬。如果在散射角為160°時進行測量，則多普勒頻移和峰加寬將分別為108 赫茲和430 赫茲，這使得測定zeta 電位不可能了。