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技術文章
光學儀器做鹽霧腐蝕試驗對試樣的要求
點擊次數(shù)：174 發(fā)布時間：2014-11-30
什么會影響試驗的結(jié)果？原因有很多，zui重要的原因是試樣，如果檢測的試樣達不到所試驗的標準，那么所得到的結(jié)果會相差非常大。光學儀器行業(yè)試樣應滿足哪些要求呢？下面北京雅士林一一為您解答：
試樣應由構(gòu)成的基本材料制成，若試樣表面有涂鍍層（拋光鍍層、防護性涂層、光學零件薄膜），則涂鍍層的結(jié)構(gòu)應與儀器所用的涂鍍層相同。試驗金屬或非金屬涂層的試樣用的載體為GB/T 12085.4-2010標準中圖1所示的金屬片（試片）。涂鍍層必須*覆蓋住試片，尤其是外部邊緣及孔的邊緣。不能被覆蓋住的金屬試片邊緣，應采取不影響涂層性能的保護措施避免其暴露。試片的標記不能損害試驗涂層（比如穿孔標記應在涂層前制作好）。
用澆鑄材料制造的儀器或零件，其基底材料應使用與零件同一爐澆鑄并且和試驗報告中數(shù)據(jù)一致的材料制作。在光學膜層和其他功能涂層上，試驗樣本的試片涂層結(jié)構(gòu)，應與原零件的基底材料一樣。
成套的大型儀器和組件以及與安裝好的裝置分離的部件，按GB/T 12085.4-2010標準的規(guī)定試驗時，可采用上述代表心試樣或一些試片的試樣（比如電子絕緣件、小的零部件）作試樣。