国产麻豆色哟哟网站,午夜精品久久久久成人,熟女少妇中出一区二区三区四区

復納科學儀器（上海）有限...

查看電話 在線咨詢

立即詢價

您提交后，專屬客服將第一時間為您服務

點擊提交代表您同意《用戶服務協(xié)議》《隱私政策》

如何呈現(xiàn)掃描電鏡樣品表面的“真實形貌”

閱讀：1798 發(fā)布時間：2019-08-28

　　掃描電子顯微鏡(SEM)是依靠電子束與樣品相互作用產(chǎn)生俄歇電子、特征 X 射線和連續(xù)譜 X 射線、背散射電子等信號，對樣品進行分析研究。

　　掃描電鏡在表征樣品時，受諸多參數(shù)的影響，不同類型樣品應選用合適的參數(shù)，才能呈現(xiàn)出樣品更真實的表面信息。如在不同的加速電壓下，電子束與樣品作用所獲得的信號會有很大的差別。從理論上說，入射電子在樣品中的散射軌跡可用 Monte Carlo 的方法模擬(如圖1 所示)，并且推導得到入射電子大穿透深度 Zmax。

　　Zmax=0.0019(A / Z)1.63E01.71/ρ

圖1 電子在鈦(Ti)金屬中的運動軌跡

提供商	復納科學儀器（上海）有限公司	下載次數(shù)	0次
資料大小	464.4KB	資料類型	PDF 文件免費下載該資料
資料圖片	--	瀏覽次數(shù)	1798次

亚洲欧洲日韩中文字幕,久久99精品国产自在现线小黄鸭,女教师巨大乳孔中文字幕,亚洲日韩精品欧美一区二区一

如何呈現(xiàn)掃描電鏡樣品表面的“真實形貌”

產(chǎn)品展示

會員登錄

收藏該商鋪

提示