第十一屆*陶瓷研討會 (CICC-11) 將于 2019 年 5 月 25 日至 29 日在云南省昆明市召開。
CICC *陶瓷研討會是由中國硅酸鹽學會發(fā)起并主辦的一個系列性學術會議。至今，已成為亞洲具有相當影響力的大型學術會議。國內從事特種陶瓷研究的相關高等院校及科研院所均有代表出席歷屆 CICC。
會議時間：2019 年 5 月 25 日 - 29 日
會議地點：云南 · 昆明 · 云安會都酒店
掃描電鏡表征陶瓷類樣品
功能摻雜陶瓷 陶瓷片斷面
圖1 陶瓷掃描電鏡圖片
掃描電鏡在陶瓷樣品中的研究主要為以下幾個方面的研究：
· 顯微結構分析：晶體生長機理、臺階、位錯、缺陷等的研究；
· 成分非均勻性、殼芯結構、包裹結構的研究；
· 靜態(tài)或動態(tài)微觀裂紋或氣孔的研究；
· 加熱前后晶體合成、氣化、聚合反應等研究；
· 微區(qū)成分分析。
對于導電性差的陶瓷，為了避免荷電效應的影響，常規(guī)的方法包括：蒸鍍導電膜、降低入射電子束能量、拍照采用快掃模式、改善導電通路、減小樣品尺寸、低真空模式等。
在實際中使用較多一般是蒸鍍導電膜，包括蒸鍍金屬膜 Au、Pt、Ag、Cr 或碳膜。
噴金前 噴金后
圖2 陶瓷粉體
圖 2 顯示了同一樣品、同一參數(shù)噴金前后的圖像差異，可以看出飛納電鏡在不噴金條件下，陶瓷粉在 40000x 高倍下依然沒有明顯充電，表現(xiàn)相當不俗，噴金之后效果更進一步提升，邊緣更加銳利，細節(jié)更加突出。
降低荷電效應樣品杯
采用飛納電鏡降低荷電效應樣品杯之后，由于低真空下對樣品表面電子累積的有效緩解，可以不用噴金直接得到非常的圖片。
能譜分析
飛納電鏡能譜分析：點掃描
飛納電鏡能譜分析：線掃描
飛納電鏡能譜分析：面掃描
圖 3
除了基本的形貌觀察之外，掃描電鏡的一些選配件可以實現(xiàn)諸如能譜分析、EBSD、陰極熒光等其他角度的分析。其中常見的當屬電鏡能譜分析 (EDS)，在圖 3 中可以看到，通過掃描電鏡能譜分析，即直接選點、劃線、框面進行分析，數(shù)分鐘后即可得到結果。
在陶瓷樣品中，經常需要研究摻雜相的分布，比如均勻混合還是只分布于晶界，此時通過圖片顯然不能確定，加上微區(qū)成分信息的數(shù)據(jù)，就可以一目了然。
想了解更多掃描電鏡在陶瓷樣品中的應用嗎？飛納電鏡在 CICC-11 等著你。
6
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務