新年伊始,由埃鼎智能科技有限公司合作開(kāi)發(fā)的YTS 100超聲掃描顯微鏡成功入駐浙江大學(xué)紹興微電子研究中心實(shí)驗(yàn)室,雙方將在功率器件的功能性能測(cè)試、可靠性分析等方面加強(qiáng)合作,共同探討功率器件及模組的自動(dòng)化方法和標(biāo)準(zhǔn)化流程。埃鼎智能科技專(zhuān)注于半導(dǎo)體行業(yè)聲、光、電等無(wú)損檢測(cè)設(shè)備開(kāi)發(fā)和技術(shù)服務(wù),公司秉承誠(chéng)信務(wù)實(shí),合作共贏的理念,致力于為半導(dǎo)體行業(yè)提供優(yōu)異的檢測(cè)設(shè)備和服務(wù)。公司目前已有紅外顯微鏡、超景深顯微鏡、超聲掃描顯微鏡、晶圓&掩模缺陷自動(dòng)檢測(cè)等多款設(shè)備進(jìn)入客戶產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室。YTS 100超聲掃描顯微鏡是一款超聲無(wú)損檢測(cè)利器,超聲波在被測(cè)樣品中傳播,遇到不同的物質(zhì)發(fā)生反射,探頭接收回波信號(hào),計(jì)算機(jī)將超聲波信號(hào)生成圖像。超聲掃描檢測(cè)在功率器件缺陷檢測(cè),IC芯片失效分析、高低壓電器焊接質(zhì)量檢查等行業(yè)有廣泛應(yīng)用。環(huán)氧樹(shù)脂封裝分層缺陷檢測(cè):缺陷信號(hào)與結(jié)合良好信號(hào)的波形相位不同,通過(guò)波形進(jìn)行著色處理,將缺陷區(qū)域標(biāo)紅。 不破壞產(chǎn)品的前提下,掃描不同深度的結(jié)構(gòu),進(jìn)行內(nèi)部缺陷檢測(cè)。
芯片塑封后內(nèi)部的空洞、裂紋、分層等異常在超聲顯微鏡下一覽無(wú)余。
第62屆中國(guó)高等教育博覽會(huì)
展會(huì)城市:重慶市展會(huì)時(shí)間:2024-11-15