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簡介：多功能數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定...

簡介：采用四探針測試技術(shù)，寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準(zhǔn)確，測量方便，精確，游移率小，壽命長，可測量片狀、塊狀等半導(dǎo)體材料及徑向、軸向的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻、方塊電阻；對(duì)薄膜等材料的電阻率也...

簡介：適用：電線電纜行業(yè)、導(dǎo)體及半導(dǎo)體材料行業(yè)，碳素、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部門對(duì)新材料之研究，是檢驗(yàn)和分析材料樣品質(zhì)量的一種重要的工具及有效方法。

簡介：測量范圍電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω可測半導(dǎo)體材料尺寸直徑：Φ15～100mm；長（或高）度：≤400mm

簡介：多功能數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定...

簡介：儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試

簡介：HAD-M-2型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊...

簡介：GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測量硅晶塊、晶片電...

簡介：1．主機(jī)采用的*電路設(shè)計(jì)，所測數(shù)值更精、更快、更準(zhǔn)（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點(diǎn)：體積大，速度慢，元器件繁多導(dǎo)致影響機(jī)器壽命）。2．屏幕采用液晶顯示（一代為只有數(shù)碼管顯示），手自一體（自動(dòng)是標(biāo)配，手動(dòng)手...

簡介：HAD-ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上四端子測試夾具，還可對(duì)電阻器...