HAD-ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。

多功能數(shù)字式四探針測試儀/數(shù)字式四探針測試儀/四探針電阻率測試儀 型號：HAD-ST2258A

概述

　　HAD-ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。

　　本測試儀特贈設(shè)測試結(jié)果分類功能，zui大分類10類

　　儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。

基本技術(shù)參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率

電    阻：     1.0×10^-3 ～ 200.0×10³  Ω,    分辨率0.1×10^-3 ～ 0.1×10³  Ω

電 阻 率：     10.0×10^-3 ～ 20.0×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-3 ～ 0.1×10³  Ω-cm

方塊電阻：     10.0×10^-3 ～ 20.0×10³ Ω/□  分辨率1.0×10^-3 ～ 0.1×10³  Ω/□

2. 可測半導體材料尺寸

直        徑：  測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

長（或高）度：  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等級

4) 工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5) 外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm

凈   重：≤1kg

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