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X射線衍射物相檢測(cè)(XRD分析)
國家有色金屬及電子材料分析測(cè)試中心可以進(jìn)行,各種礦石、鋼鐵、有色、稀有金屬材料、半導(dǎo)體材料、*復(fù)合材料及功能材料的物相定性、定量分析、點(diǎn)陣常數(shù)(晶格常數(shù))計(jì)算。
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國家有色金屬及電子材料分析測(cè)試中心,是中國的第三方金屬檢測(cè)機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室通過ISO 17025國家實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可(CNAS),中國計(jì)量認(rèn)證(CMA),航空材料認(rèn)證(NADCAP),為客戶提供科學(xué)的產(chǎn)品檢測(cè)、評(píng)價(jià)方案,滿足進(jìn)出口及工程檢測(cè)等各種需求。
關(guān)鍵詞:繪制衍射圖譜,物相定性分析,物相定量分析,極圖測(cè)定,宏觀應(yīng)力測(cè)試,宏觀應(yīng)力檢測(cè),宏觀應(yīng)力分析,微觀應(yīng)力分析,微觀應(yīng)力檢測(cè),微觀應(yīng)力測(cè)試,織構(gòu)分析,晶粒度測(cè)試,點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)定,點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)試,點(diǎn)陣常數(shù)檢測(cè),晶體取向分析,殘余應(yīng)力測(cè)試,殘余應(yīng)力分析,殘余應(yīng)力檢測(cè)
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