Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

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Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

 

X射線發(fā)生部   2kw或3kw（cpu控制）

測角儀        θ/2θ聯(lián)動，θ、2θ獨立

掃描范圍      -6°~163°（2θ），-180°~180°（θ）

數(shù)據(jù)處理部      windows 2000/xp對應

Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

XRD-6000具有本質(zhì)安全結(jié)構(gòu)。
只有門連鎖機構(gòu)閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安全性。
配備高速運轉(zhuǎn)（1000°/min）及高精度角度重現(xiàn)性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。
驅(qū)動機構(gòu)為獨立2軸驅(qū)動，可選擇θ-2θ聯(lián)動或θ、2θ軸獨立驅(qū)動，特別對薄膜測定行之有效。
備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。