探測(cè)器
1、主探測(cè)器閃爍體采用HND-DS2型低本底αβ閃爍體,不怕污染,表面可擦洗,經(jīng)久耐用
2、反符合探測(cè)器閃爍體采用HND-DS401型閃爍體,反符合效率大于99%,zui大程度通過(guò)反符合電路降低本底
3、探測(cè)器采用緊湊型結(jié)構(gòu),體積小,性能好
4、探測(cè)器采用高頻通信級(jí)別SMB同軸接口,高頻通過(guò)性強(qiáng),屏蔽效果好,更好保留原始信號(hào)信息
5、儀器效率高,本底低,串道比低,*穩(wěn)定性好,無(wú)需耗材
6、提供不同規(guī)格的探測(cè)器及樣品盤(pán)供用戶(hù)選擇,適用不同的測(cè)試需求
控制器
1、儀器采用模塊化設(shè)計(jì),標(biāo)準(zhǔn)插道式控制器,方便自由組合
2、技術(shù):采用高速高性能同步采集控制器,真正實(shí)現(xiàn)所有通道*獨(dú)立同步采集
3、閾值均通過(guò)計(jì)算機(jī)調(diào)節(jié),調(diào)節(jié)精度0.01V
4、高壓通過(guò)計(jì)算機(jī)調(diào)節(jié)控制,調(diào)節(jié)精度0.3V
5、實(shí)際高壓均可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),實(shí)現(xiàn)閉環(huán)控制高壓,精確穩(wěn)定
6、儀器采用RS-232或USB連接計(jì)算機(jī),軟件實(shí)現(xiàn)全程控制
鉛室
1、分體式全新上層鉛室,結(jié)構(gòu)緊湊,更小體積,屏蔽效果更好
2、一體化下層鉛室,重心下移,安全可靠
3、可拆卸中間層,安裝拆卸獨(dú)立,方便,提供單通道,雙通道,四通道及六通道送樣抽屜
4、低本底(對(duì)α<8cp6000s, 對(duì)β<230cp6000s)
| 項(xiàng)目 | 指標(biāo) |
單位面積平均本底計(jì)數(shù)率 (計(jì)數(shù)cm-2*min-1) | α | ≤0.003 |
β | ≤0.1 |
效率比 | α | ≥85% |
β | ≥58% |
效率穩(wěn)定性 | α | <3% |
β | <8% |
串道比 | α射線對(duì)β道 | ≤2.5% |
β射線對(duì)α道 | ≤0.3% |