X熒光元素錄井分析儀
秉承X熒光光譜儀20多年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，天瑞元素錄井分析儀EDX5500H再次推動(dòng)了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發(fā)展。將Ｘ射線(xiàn)熒光分析（XRF）用于巖屑錄井這項(xiàng)技術(shù)的獨(dú)到之處在于：通過(guò)巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來(lái)識(shí)別巖性，再通過(guò)巖性的組合特征分析來(lái)判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
高效真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器保障對(duì)巖心中的元素具有超低的檢出限，為錄井平臺(tái)提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征；更寬的元素檢出范圍滿(mǎn)足多種元素的同時(shí)檢測(cè)需求；同時(shí)引入了目前*的4096道數(shù)字多道技術(shù)，采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線(xiàn)管，使儀器計(jì)數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好，適用面更廣；
優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；
*的抗震性設(shè)計(jì)，高保護(hù)光路設(shè)計(jì)使得該儀器通過(guò)了第三方機(jī)構(gòu)高低溫、高低頻電動(dòng)振動(dòng)及濕熱等使用認(rèn)證；
在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試、在線(xiàn)檢測(cè)以及各類(lèi)地質(zhì)勘察多元素檢測(cè)中充分發(fā)揮作用。
X熒光元素錄井分析儀主機(jī)標(biāo)準(zhǔn)配置：
上照式光路系統(tǒng)直射模式 SDD探測(cè)器 數(shù)字多道處理器 美國(guó)進(jìn)口高壓
進(jìn)口牛津鈹窗X射線(xiàn)管 智能測(cè)試軟件 校正模塊內(nèi)置 封閉式定向散熱系統(tǒng)
高阻尼可動(dòng)防震緩沖支腳 定制CCD高清攝像頭
整套設(shè)備包括： Ｘ?zé)晒夥治鲋鳈C(jī)、電腦、打印機(jī)、粉碎機(jī)、壓片機(jī)、真空泵
錄井行業(yè)應(yīng)用案例
l 巖心成份普查：
僅需簡(jiǎn)單前處理，微量多種元素成分盡在掌握。
l 現(xiàn)時(shí)分析
能快速、現(xiàn)場(chǎng)追蹤巖心數(shù)據(jù)，圈定油氣邊界。單個(gè)樣品30多種元素測(cè)試僅需1——4分鐘；
l 現(xiàn)場(chǎng)分析
*的減震、超小的真空腔、超穩(wěn)固樣品靜態(tài)控制結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使儀器可以應(yīng)對(duì)各種現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境的檢測(cè)任務(wù)；
X熒光元素錄井分析儀儀器性能優(yōu)勢(shì)：
儀器外形小巧，簡(jiǎn)潔大方，可用于車(chē)載和實(shí)驗(yàn)室，使用方法簡(jiǎn)單，測(cè)試效率高；
測(cè)試時(shí)上照式光路設(shè)計(jì)加上真空測(cè)試腔有效杜絕現(xiàn)場(chǎng)環(huán)中粉塵對(duì)探測(cè)器的污染；
準(zhǔn)直器*化設(shè)計(jì)使樣品受激光斑達(dá)150mm2 保證測(cè)試信號(hào)的豐富性，提高測(cè)試精確度
封閉式定向風(fēng)冷散熱保證X射線(xiàn)管工作溫度穩(wěn)定，延長(zhǎng)X射線(xiàn)管壽命；
分析樣品速度快，zui快可達(dá)60S，并且可同時(shí)分析40種元素；
高阻尼可動(dòng)支腳防震設(shè)計(jì)加上超穩(wěn)真空控樣設(shè)計(jì)保證了每一個(gè)樣品與光管、探測(cè)器幾何關(guān)系時(shí)刻相*，屏蔽現(xiàn)場(chǎng)震動(dòng)所造成的影響；
大面積厚晶體SDD探測(cè)器，配上Rh靶X光管以及良好的散熱性，有力地確保測(cè)試高效穩(wěn)定；
X射線(xiàn)屏蔽設(shè)計(jì)和高分子材料及安全聯(lián)動(dòng)裝置有效保證*外漏，讓測(cè)試人員安全放心使用；
