Nanofirst 3600是一款高性價比的一體式原子力顯微鏡(AFM)，具有性能穩(wěn)定，操作簡便和實用性強等優(yōu)點，可實現(xiàn)高分辨納米、亞納米測試。適合于高校納米科技教學(xué)、科學(xué)研究、納米材料及粉體分析、電化學(xué)測量、生物制藥和工業(yè)現(xiàn)場測試。作為專業(yè)AFM制造商，海茲思具有十多年的AFM技術(shù)經(jīng)驗和積累，能夠提供及時的專業(yè)和售后服務(wù)。

Nanofirst 3600是一款高性價比的一體式原子力顯微鏡(AFM)，具有性能穩(wěn)定，操作簡便和實用性強等優(yōu)點，可實現(xiàn)高分辨納米、亞納米測試。適合于高校納米科技教學(xué)、科學(xué)研究、納米材料及粉體分析、電化學(xué)測量、生物制藥和工業(yè)現(xiàn)場測試。作為專業(yè)AFM制造商，海茲思具有十多年的AFM技術(shù)經(jīng)驗和積累，能夠提供及時的專業(yè)和售后服務(wù)。

特點及用途：
>為科研和工業(yè)應(yīng)用設(shè)計，用于各類納米材料樣品測量表征；

>一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計，配有專業(yè)的防震系統(tǒng)

>集成接觸模式和動態(tài)力模式原子力顯微鏡、摩擦力顯微鏡功能；

>多通道圖像同步采集顯示，實時觀測形貌圖、摩擦力圖、振幅圖等；
 

>定點實時測試F-Z曲線、f-RMS曲線、RMS-Z曲線等多種曲線功能；

>設(shè)置“掃描頻率安全上限”功能，可限制zui快掃描頻率，保護探針；

>圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名，當前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存功能；

>配備二維微米樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域；

>高精度探針-樣品定位系統(tǒng)，直接定位到高倍CCD(選配)任意可視的微米級區(qū)域進行掃描；
 

>可增配模式：磁力、相位和靜電力。