OLYMPUS相控陣超聲波探傷儀OmniScan SX PA
奧林巴斯OLYMPUS超聲波探傷儀EPOCH XT 無(wú)損檢測(cè)機(jī),數(shù)字超聲波探傷儀UI-25 無(wú)損檢測(cè)機(jī),超聲波探傷儀EPOCH 650 奧林巴斯,SIO-3000裂縫探傷焊縫板材鋼管鑄造缺陷探傷儀,鋼板內(nèi)部缺陷探傷機(jī)JUT500裂紋氣孔 /金屬內(nèi)部檢測(cè)儀/ EPOCH 600裂紋檢測(cè)儀/leeb520數(shù)字式超聲波探傷儀 ,USM 36鑄鐵內(nèi)部缺陷鋼管焊縫超聲波探傷儀,壓力容器管.EPOCH 650復(fù)合材料分層。數(shù)字式超聲波探傷儀SUB110鍛件 焊縫。
相控陣超聲波探傷儀OmniScan SX PA(奧林巴斯):探傷儀:非破壞性檢測(cè)機(jī)
適用于檢查,如焊縫檢測(cè),腐蝕測(cè)繪和復(fù)合材料檢測(cè)。小巧,輕便的設(shè)計(jì)呢,8.4英寸的超大觸摸屏舒服可以在操作!
8.4英寸亮大觸摸屏,16:64 PR相控陣設(shè)備,可實(shí)現(xiàn)平穩(wěn)舒適的操作。它是一種緊湊輕巧的設(shè)計(jì),在大型觸摸屏的同時(shí)實(shí)現(xiàn)了簡(jiǎn)單的操作和性?xún)r(jià)比。
型號(hào)名稱(chēng) | 相控陣超聲波探傷儀 |
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型號(hào) | OmniScan SX PA |
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制造商名稱(chēng) | 奧林巴斯 |
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關(guān)于相控陣超聲波探傷儀的問(wèn)題在這里
NDI實(shí)際測(cè)試用試件(STB-A1,STB-N1)
用于NDI實(shí)際測(cè)試的試件(STB-A 2(塑料件))
實(shí)用的UT 2級(jí)試驗(yàn)片(SV 3,TA 4,RB 41,42)
UT 1級(jí)垂直/斜角測(cè)試件(1 V 4和SA 2)
※訂購(gòu)/預(yù)估時(shí)請(qǐng)與我們聯(lián)系。
特點(diǎn)
- 通過(guò)單組配置實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的可操作性和成本性能
- 支持2軸編碼器,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能
- 16:64PR相控陣,UT,TOFD兼容
- 明亮大屏的觸摸屏界面
- 小巧輕便的設(shè)計(jì)
設(shè)置
可以使用NDT SetupBuilder(Setup Builder)創(chuàng)建缺陷檢測(cè)設(shè)置,并可以通過(guò)SD卡或USB將其直接導(dǎo)入OmniScan SX。因此,使用OmniScan SX主機(jī),在開(kāi)始數(shù)據(jù)采集之前,您只需要幾個(gè)基本操作,例如門(mén)和范圍設(shè)置。通過(guò)以下功能,還可以直接輕松地設(shè)置OmniScan SX主機(jī)。
- 自動(dòng)探頭識(shí)別功能
- 向?qū)Чδ?/span>
- 焊接部分凹槽覆蓋和射線追蹤模擬
校對(duì)
校對(duì)向?qū)еС謱?shí)現(xiàn)符合標(biāo)準(zhǔn)的缺陷檢測(cè)。在校準(zhǔn)向?qū)е校鸩綀?zhí)行聲速,楔形延遲,靈敏度,TCG,DAC,AWS的校準(zhǔn)。此外,我們將自動(dòng)校準(zhǔn)TOFD的PCS(探頭中心間距)并線性化橫向波顯示。
數(shù)據(jù)收集
OmniScan SX允許您快速輕松地設(shè)置探傷參數(shù),用于手動(dòng)探傷,單線掃描,光柵編碼掃描??蛇x擇的視圖允許您實(shí)時(shí)顯示數(shù)據(jù)收集并將數(shù)據(jù)保存到具有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0存儲(chǔ)設(shè)備。
- 出色的布局功能
- 通過(guò)顯示全屏模式,可以輕松顯示缺陷
- 通過(guò)組合每個(gè)門(mén)可以實(shí)現(xiàn)同步和測(cè)量
數(shù)據(jù)分析和報(bào)告生成
- 使用數(shù)據(jù)光標(biāo),參考光標(biāo),測(cè)量光標(biāo)確定缺陷大小
- 測(cè)量數(shù)據(jù)庫(kù)和預(yù)定義列表:角度設(shè)置,軸上缺陷統(tǒng)計(jì),所有部分的位置信息,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的通過(guò)/未通過(guò)標(biāo)準(zhǔn),腐蝕映射統(tǒng)計(jì)等。
- 門(mén)移動(dòng)可以離線,雙向反映到測(cè)量值
- 通過(guò)預(yù)設(shè)布局,您可以快速輕松地確定缺陷長(zhǎng)度,深度和高度
探測(cè)器
探頭的特點(diǎn)
通用探頭,這樣就可以方便地訪問(wèn)到一個(gè)相對(duì)較小的地方,已成為集薄探頭和楔形的結(jié)構(gòu)。
右圖是一個(gè)探針。
楔子
探頭是由不銹鋼螺絲,通過(guò)施加到牢固地固定到楔形測(cè)量目標(biāo)設(shè)備,可以測(cè)試。
下面列出的楔形包含在標(biāo)準(zhǔn)組件中。
*使用過(guò)的楔子根據(jù)客戶的使用方法和測(cè)量對(duì)象而有所不同。有關(guān)詳細(xì)信息,請(qǐng)聯(lián)系負(fù)責(zé)人。
樣 | 楔形垂直探針 | 用于斜角探針的楔形 |
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型號(hào) | SA 10 - 0 L. | SA 10-N 55 S. |
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形狀 | | |
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怎么檢查 | | |
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楔形尺寸 | 大號(hào) | 23 | 25 |
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w ^ | 23 | 23 |
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^ h | 14 | 20 |
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使用
它簡(jiǎn)化了檢查工作流程,并使檢查能夠有效執(zhí)行。
使用相控陣進(jìn)行焊縫檢查
被開(kāi)發(fā)為好探傷儀執(zhí)行手動(dòng)檢查,并在石油和天然氣工業(yè)焊縫的半自動(dòng)檢查,ASME,API,已被用于測(cè)試與其他標(biāo)準(zhǔn)。它還表現(xiàn)出在高速檢測(cè)和缺陷指示分析方面的性能。
腐蝕測(cè)繪和復(fù)合材料檢驗(yàn)
它還支持垂直探傷。腐蝕和復(fù)合材料制成的檢查裝置,證明缺陷檢測(cè)在現(xiàn)場(chǎng),可以在減少肉類(lèi)檢驗(yàn)溶液。
TOFD焊縫檢驗(yàn)
還支持TOFD檢查。TOFD是一種檢測(cè)方法,可以快速有效地檢測(cè)焊接部件中的缺陷,并有效地測(cè)量焊接部件中可疑缺陷,尺寸和制造缺陷的區(qū)域。
零件檢查
超聲波檢測(cè)是檢測(cè)零件缺陷,變薄和其他缺陷的理想選擇。OmniScan的SX,由于能夠以產(chǎn)生斜梁和垂直梁,在成本方面的探傷單個(gè)組的結(jié)構(gòu),功能,性能優(yōu)良的。
規(guī)范
測(cè)量范圍 | ~18,848毫米 |
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聲速 | 0至15,240米/秒 |
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住房 | 外形尺寸(寬x深x高) | 267 x 94 x 208毫米 |
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塊 | 3.4千克(包括電池) |
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數(shù)據(jù)記錄 | 存儲(chǔ)設(shè)備 | SDHC卡,標(biāo)準(zhǔn)USB存儲(chǔ)設(shè)備 |
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大數(shù)據(jù)文件大小 | 300 MB |
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I / O端口 | USB端口 | USB端口x 2(符合USB 2.0規(guī)范) |
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音頻報(bào)警 | 〇 |
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視頻輸出 | 視頻輸出(SVGA) |
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I / O線 | 編碼器 | 2軸編碼器(A / B相,上/下,脈沖/方向) |
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數(shù)字輸入 | TTL輸入x 4,5 V |
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數(shù)字輸出 | TTL輸出x 3,5 V, 大15 mA /輸出 |
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數(shù)據(jù)收集開(kāi)/關(guān)開(kāi)關(guān) | 基于數(shù)字輸入設(shè)置 |
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電源輸出線 | 標(biāo)稱(chēng)值5 V,大值500 mA(具有短路保護(hù)功能) |
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步伐輸入 | 5 V,TTL同步輸入 |
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顯示 | 顯示尺寸 | 對(duì)角線8.4英寸(21.3厘米) |
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決議 | 800 x 600像素 |
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亮度 | 600 cd / m 2 |
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視角 | 側(cè)向 | -80°至80° |
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垂直方向 | -60°至80° |
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顯示顏色數(shù) | 1600萬(wàn)種顏色 |
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樣 | TFT,LCD |
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電源 | 電池類(lèi)型 | 智能鋰離子電池 |
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電池?cái)?shù)量 | 1 |
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正常運(yùn)行時(shí)間 | 大約6個(gè)小時(shí)(視情況而定) |
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環(huán)境條件 | 溫度(使用時(shí)) | -10°C至45°C |
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溫度(儲(chǔ)存) | 配備電池時(shí) | -20°C至60°C |
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未安裝電池時(shí) | -20°C至70°C |
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相對(duì)濕度 | 45°C無(wú)冷凝,大相對(duì)濕度70% |
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防水/防塵性能 | 相當(dāng)于IP66 |
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跌落測(cè)試 | MIL-STD-810G 516.6 |
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脈沖星/接收器 | 同時(shí)激勵(lì)元件的數(shù)量 | 16個(gè)振蕩元件 |
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換能器元件數(shù)量 | 64振蕩元件 |
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脈沖星 | PA頻道 |
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電壓 | 40 V,80 V,115 V |
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脈沖寬度 | 可調(diào)范圍為30 ns至500 ns 分辨率:2.5 ns |
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脈沖類(lèi)型 | 負(fù)方波 |
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輸出阻抗 | 35Ω (脈沖回波模式)30Ω(間距捕捉模式) |
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接收器 | PA頻道 |
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增益范圍 | 0 dB至80 dB 大輸入信號(hào)550 mV p-p(FSH) |
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輸入阻抗 | 60Ω(脈沖回波模式) 150Ω(間距捕捉模式) |
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系統(tǒng)帶寬 | 0.6 MHz至18 MHz(-3 dB) |
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梁形成 | 掃描類(lèi)型 | 扇形,線性 |
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組數(shù) | 1 |
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數(shù)據(jù)收集 | PA頻道 |
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數(shù)字化頻率 | 100 MHz |
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大重復(fù)頻率 | 大6 kHz(C掃描) |
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數(shù)據(jù)處理 | PA頻道 |
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數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù) | 高達(dá)8,192 |
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實(shí)時(shí)平均 | PA | 2,4,8,16 |
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波形顯示 | 射頻,全波,半波+,半波 - |
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過(guò)濾 | 低通x 3,帶通x 3,高通x 5 |
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視頻過(guò)濾 | 平滑(適應(yīng)探頭頻段) |
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數(shù)據(jù)顯示 | 屏幕更新速度 | A-掃描 | 60赫茲 |
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S-掃描 | 60赫茲 |
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數(shù)據(jù)同步 | 內(nèi)部時(shí)鐘 | 1 Hz至6 kHz |
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編碼器同步 | 2軸:1步 - 65,536步 |
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TCG(可編程) | 設(shè)定點(diǎn)數(shù) | 16:每個(gè)焦點(diǎn)行的一個(gè)TCG(時(shí)間校正增益)曲線 |
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大坡度 | 40 dB / 10 ns |
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報(bào)警 | 報(bào)警區(qū)域數(shù)量 | 3 |
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條件 | 門(mén)組合 |
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組件
標(biāo)準(zhǔn)組件 | 磨損(SA10-N55S),USB 2.0(16GB),保護(hù)蓋(安裝主機(jī)),楔形(垂直SA10-0L),楔形(垂直SA10-0L),主體,耦合器,電池,SD卡保護(hù)罩(備用),凸面,鐵氧體磁芯過(guò)濾器(大3,小1),使用說(shuō)明書(shū),充電器套件(充電器,適配器,接地適配器),探頭外殼,機(jī)身外殼 |
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可選項(xiàng)目
UT實(shí)用測(cè)試選項(xiàng) | NDI實(shí)用試樣 | STB-A1,STB-N1(每個(gè)1個(gè)) |
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NDI實(shí)用試樣 | 機(jī)頂盒 - A 2(塑料件) |
UT級(jí)2實(shí)用測(cè)試件 | SV 3,TA 4,RB 41(每個(gè)1個(gè)) |
UT 1級(jí)垂直·斜角試樣 | 1 V 4,SA 2(每個(gè)1個(gè)) |
OLYMPUS相控陣超聲波探傷儀OmniScan SX PA