OLYMPUS相控陣超聲波探傷儀EPOCH 1000IR
OLYMPUS相控陣超聲波探傷儀OmniScan SX PA,奧林巴斯OLYMPUS超聲波探傷儀EPOCH XT 無(wú)損檢測(cè)機(jī),數(shù)字超聲波探傷儀UI-25 無(wú)損檢測(cè)機(jī),超聲波探傷儀EPOCH 650 奧林巴斯,SIO-3000裂縫探傷焊縫板材鋼管鑄造缺陷探傷儀,鋼板內(nèi)部缺陷探傷機(jī)JUT500裂紋氣孔 /金屬內(nèi)部檢測(cè)儀/ EPOCH 600裂紋檢測(cè)儀/leeb520數(shù)字式超聲波探傷儀 ,USM 36鑄鐵內(nèi)部缺陷鋼管焊縫超聲波探傷儀,壓力容器管.EPOCH 650復(fù)合材料分層。數(shù)字式超聲波探傷儀SUB110鍛件 焊縫。
相控陣超聲波探傷儀EPOCH 1000 iR(奧林巴斯):相控陣超聲波探傷儀:無(wú)損檢測(cè)機(jī)
EPOCH 1000系列便攜式數(shù)字超聲波探傷儀結(jié)合了常見(jiàn)的超聲波檢測(cè)功能和相控陣功能,可實(shí)現(xiàn)橫截面成像。EPOCH 1000i配備全VGA顯示屏,即使在陽(yáng)光下也能讀取,滾動(dòng)旋鈕和箭頭鍵可簡(jiǎn)化參數(shù)調(diào)整和操作,符合IP66防水防塵性能標(biāo)準(zhǔn)。的EPOCH 1000I,相控陣列功能一直是標(biāo)準(zhǔn)特征,以及只有一般的超聲波探傷,由相控陣功能也能夠擴(kuò)大超聲波檢查的應(yīng)用的范圍。
型號(hào)名稱(chēng) | 相控陣超聲波探傷儀 |
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型號(hào) | EPOCH 1000 i |
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制造商名稱(chēng) | 奧林巴斯 |
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關(guān)于超聲波探傷儀的常見(jiàn)問(wèn)題解答
NDI實(shí)用測(cè)試探針套裝(5C20N,5C10×10A70)
NDI實(shí)際測(cè)試用試件(STB-A1,STB-N1)
用于NDI實(shí)際測(cè)試的試件(STB-A 2(塑料件))
實(shí)用的UT 2級(jí)試驗(yàn)片(SV 3,TA 4,RB 41,42)
UT 1級(jí)垂直/斜角測(cè)試件(1 V 4和SA 2)
※訂購(gòu)/預(yù)估時(shí)請(qǐng)與我們聯(lián)系。
特點(diǎn)
- 安裝了相控陣功能(部分成像功能)
- 大PRF(脈沖重復(fù)頻率):6 kHz
- 防滴漏和防塵性能符合IP66標(biāo)準(zhǔn) - 氣密設(shè)計(jì),展示了現(xiàn)場(chǎng)的耐用性
- 全VGA顯示,即使在陽(yáng)光下也能讀取
- EPOCH系列一的臥式便攜式設(shè)計(jì)
- 滾動(dòng)旋鈕和箭頭鍵便于控制面板和參數(shù)調(diào)整
- ClearWave:A-Scan屏幕顯示增強(qiáng)功能
- 數(shù)字接收濾波器:超過(guò)30種類(lèi)型
- 數(shù)字高動(dòng)態(tài)范圍接收器
- 動(dòng)態(tài)DAC / TVG
- 板載DGS / AVG
- 參考光標(biāo)和測(cè)量光標(biāo)
- 可編程模擬/報(bào)警輸出
- 相控陣探頭自動(dòng)識(shí)別功能
- 易于理解的所有焦點(diǎn)行的楔形延遲校準(zhǔn)和靈敏度校準(zhǔn)
- 符合EN12668-1
超聲波探傷儀,可實(shí)現(xiàn)*的超聲波檢測(cè)
作為一般的超聲波探傷儀,EPOCH 1000i在EPOCH系列中具有高水平的功能。這種便攜式超聲波探傷儀可以集成到在線系統(tǒng)等中。也可以使用它。EPOCH 1000i執(zhí)行精確和高速掃描,單次測(cè)量和大6 kHz的PRF(脈沖重復(fù)頻率)。此外,用于實(shí)現(xiàn)更清晰的信噪比的優(yōu)異功能,例如可調(diào)矩形波脈沖發(fā)生器(PerfectSquare)技術(shù),數(shù)字高動(dòng)態(tài)范圍接收器,寬范圍數(shù)字濾波器等是標(biāo)準(zhǔn)特征。
標(biāo)準(zhǔn)安裝功能
- 可調(diào)節(jié)PRF(脈沖重復(fù)頻率):5 Hz至6 kHz
- 單次測(cè)量
- 采用PerfectSquare技術(shù)的可調(diào)矩形波脈沖發(fā)生器
- 可編程模擬和報(bào)警輸出
- 超過(guò)30個(gè)數(shù)字濾波器
- 數(shù)字高動(dòng)態(tài)范圍接收器
軟件功能
AWS焊接檢查
該焊件評(píng)估計(jì)算器使用門(mén)控故障指示在現(xiàn)場(chǎng)執(zhí)行符合AWS D1.1 / D1.5標(biāo)準(zhǔn)的“D”值的焊接評(píng)估。
板載DGS / AVG
DGS / AVG缺陷尺寸測(cè)量技術(shù)使用預(yù)先計(jì)算的衰減曲線執(zhí)行缺陷尺寸調(diào)整。從標(biāo)準(zhǔn)列表中調(diào)用相應(yīng)探頭的衰減曲線,您可以快速輕松地執(zhí)行DGS / AVG曲線設(shè)置和準(zhǔn)確的缺陷尺寸調(diào)整。
接口門(mén)
第三個(gè)測(cè)量門(mén)(可選)提供各種接口回波的實(shí)時(shí)跟蹤,以保持*的數(shù)字測(cè)量。
動(dòng)態(tài)DAC / TVG
通過(guò)參考反射源動(dòng)態(tài)生成DAC曲線。從一個(gè)按鈕也可以從DAC切換到TVG模式。ASME,ASME-III,JIS,20%~80%,定制,TVG表等動(dòng)態(tài)DAC / TVG。
使用EPOCH 1000 ClearWave增強(qiáng)了傳統(tǒng)A掃描屏幕的顯示功能
EPOCH 1000i具有新的屏幕顯示功能,可提高高級(jí)應(yīng)用的檢測(cè)能力。
- 掃描A - 掃描
顯示所有A - 同時(shí)在屏幕上更新(1/60秒)期間發(fā)送和接收的掃描。因此,即使在高速掃描期間也能可靠地顯示來(lái)自缺陷的反射波。
在更新大幅度屏幕顯示(1/60秒)時(shí),在所有發(fā)送/接收的A掃描期間,僅顯示顯示門(mén)限設(shè)置范圍內(nèi)大幅度值的A掃描。- 小厚度
僅顯示A - 掃描,顯示在更新屏幕顯示(1/60秒)時(shí)發(fā)送/接收的所有A掃描期間門(mén)限設(shè)置范圍內(nèi)的小厚度測(cè)量值。 - 平均A - 掃描
顯示收集的A掃描的平均值。平均為2x,4x,8x,16x,32x和64x。 - 基換行符
在全波顯示模式中,作為線更靠近每個(gè)A-掃描裂片基線,以顯示一個(gè)零交叉點(diǎn)。
已經(jīng)在連續(xù)模式探傷儀的屏幕上收集的 A掃描被保持一段時(shí)間。保留的時(shí)間是可選擇的,并且該功能支持對(duì)有缺陷的回聲的視覺(jué)識(shí)別。
相控陣功能標(biāo)準(zhǔn)裝載探傷儀
EPOCH 1000i是一款便攜,堅(jiān)固,高性能的超聲波相控陣探傷儀。憑借出色的缺陷檢測(cè)功能,您可以更詳細(xì)地顯示要檢查的零件。另外,只有一個(gè)簡(jiǎn)單的設(shè)置,(聚焦法則)A-的各種角度可以?huà)呙栾@示,甚至更好檢查效率。因此,不必使用多個(gè)探針或楔形物。EPOCH 1000I,而相控陣功能的組合,通過(guò)遵照?qǐng)?zhí)行檢查與在一般的超聲波探傷模式下的標(biāo)準(zhǔn),以提高檢查的精度和效率。
標(biāo)準(zhǔn)是16:16探針元件布置(可驅(qū)動(dòng)元件編號(hào):16,大同時(shí)激勵(lì)元件編號(hào):16)和下午四點(diǎn)六十四探針元件的配置選項(xiàng)(可驅(qū)動(dòng)元件編號(hào):64,大同時(shí)激勵(lì)元件編號(hào):16) EPOCH 1000i具有許多用于檢測(cè)缺陷的尺寸調(diào)整功能。缺陷尺寸的評(píng)價(jià),是有效的標(biāo)準(zhǔn)光標(biāo)和A-掃描和S-掃描(扇形掃描)的上漿光標(biāo)。EPOCH 1000I,因?yàn)閷?duì)于所有的焦距行的有一個(gè)DAC / TVG功能,DAC曲線的基礎(chǔ)上獲得的,使得所選擇的A-掃描的缺陷評(píng)價(jià)。
所有焦點(diǎn)行中的DAC / TVG功能
EPOCH 1000i具有適用于所有焦點(diǎn)行的DAC / TVG功能。您可以通過(guò)獲取DAC曲線或在所有定義的角度/焦點(diǎn)行的已知反射源一次創(chuàng)建TVG設(shè)置。完成此設(shè)置后,您可以使用S-Scan屏幕檢測(cè)各種焦點(diǎn)行中的缺陷。
AWS焊接檢查
EPOCH 1000i具有AWS D1.1 / D1.5焊接等級(jí)計(jì)算器功能。通過(guò)連接Olympus的AWS評(píng)估的相控陣探頭,可以通過(guò)傳統(tǒng)的A掃描篩選45°,60°和70°的缺陷,同時(shí)在截面中成像缺陷檢測(cè)是的。對(duì)于選定的A掃描,可以在屏幕上顯示焊接等級(jí)的D值。
A - 同時(shí)顯示掃描顯示和S掃描
EPOCH 1000i可以同時(shí)顯示A掃描和S掃描。S - 掃描顯示A - 掃描從圖像的起始位置到結(jié)束位置的兩個(gè)值之間的角度。選擇稱(chēng)為焦點(diǎn)行的角度并生成實(shí)時(shí)A掃描。S掃描圖像是通過(guò)相控陣探頭獲得的扇形橫截面圖像,并且通過(guò)提取其一部分而獲得的信號(hào)是A掃描。同時(shí)使用S-Scan和A-Scan,可以輕松地同時(shí)檢測(cè)和評(píng)估所有角度的缺陷。
EPOCH 1000i多角度
EPOCH 1000i相控陣模式具有一種稱(chēng)為多角度的新功能??梢院涂梢暬N角度或焦點(diǎn)行。從的三種角度獲得的A - 掃描覆蓋在A - 掃描窗口上,您可以同時(shí)看到所有A - 掃描。由于每個(gè)角度都是彩色編碼的,因此對(duì)于需要在45°,60°和70°進(jìn)行評(píng)估的一般尺寸測(cè)量方法非常有用。
線性E掃描和C掃描
這個(gè)可選的軟件功能延伸EPOCH 1000I對(duì)應(yīng)通過(guò)手動(dòng)添加一個(gè)電子掃描(E-掃描)C-掃描圖像函數(shù)下午四點(diǎn)六十四探針元件配置(通過(guò)編碼基于時(shí)間)。線性E-掃描是使用探針具有大多達(dá)16個(gè)元件的同時(shí)激勵(lì)元件64的收集。A-可以同時(shí)顯示傅該掃描和E-掃描或A-掃描和C-掃描圖像。C-掃描圖像是通過(guò)累積E-掃描的圖像數(shù)據(jù)生成的。在本說(shuō)明書(shū)中按照C-掃描圖像,同時(shí)顯示傳播時(shí)間(TOF),并從兩個(gè)獨(dú)立的測(cè)量柵極幅度數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)采集??,數(shù)據(jù)源和數(shù)據(jù)類(lèi)型后,可以動(dòng)態(tài)調(diào)整,可以執(zhí)行使用光標(biāo)的掃描數(shù)據(jù)的分析。
OLYMPUS相控陣超聲波探傷儀EPOCH 1000IR
使用
- 一般焊縫檢查
- 裂縫檢測(cè)和尺寸
- 檢查電力行業(yè)
- 通過(guò)AWS D1.1 / D1.5標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行焊縫檢查
- 鑄造和鍛造缺陷檢查
- DGS / AVG軟件功能的缺陷尺寸
- 替換超聲波單元部分的在線檢測(cè)裝置和罐體檢測(cè)裝置
- 復(fù)合材料的分層和缺陷檢查
- 航空航天業(yè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)和維護(hù)工作
- 汽車(chē)工業(yè)和其他運(yùn)輸設(shè)備的產(chǎn)品檢驗(yàn)和維護(hù)工作
規(guī)范
一般規(guī)格和環(huán)境規(guī)范
一般規(guī)格
外觀尺寸 (寬x高x深) | 252×177×107毫米 |
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塊 | 3.67千克(包括鋰離子電池) |
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鍵盤(pán) | 日語(yǔ),英語(yǔ),標(biāo)志,中文 |
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界面語(yǔ)言 | 日語(yǔ),英語(yǔ),西班牙語(yǔ),法語(yǔ),德語(yǔ),意大利語(yǔ),中文,俄語(yǔ),挪威語(yǔ),瑞典語(yǔ) |
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探針連接 | BNC或LEMO 01 |
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數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 使用波形數(shù)據(jù),主體中多可保存10,000個(gè)ID。 4 GB CompactFlash卡標(biāo)準(zhǔn)(可拆卸) |
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電池類(lèi)型 | 標(biāo)配鋰離子充電電池(×1) |
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正常運(yùn)行時(shí)間 | 8小時(shí)(傳統(tǒng)UT模式),7小時(shí)(相控陣模式) |
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電源要求 | 交流主電源:100 VAC至120 VAC,200 VAC至240 VAC,50 Hz至60 Hz |
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顯示類(lèi)型 | 全VGA(640 x 480像素),半透半反式彩色LCD,更新速度60 Hz |
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顯示尺寸 (寬x高,對(duì)角線) | 132.5毫米×99.4毫米,165.1毫米 |
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環(huán)境合規(guī)評(píng)估
防水/防塵性能 | 符合IP66標(biāo)準(zhǔn) |
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爆炸的氣氛 | MIL-STD-810F,方法511.4,程序1.根據(jù)NFPA 70,第500條定義的氣氛為I類(lèi),2區(qū),D組。 |
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抗沖擊性 | IEC 600689-2-27,60 g,6μsHS,總共18軸 |
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抗振性 | 正弦振動(dòng),IEC 60068-2-6,5 Hz至150 Hz @ 0.03英寸或2 g的位移幅度,20個(gè)掃描周期 |
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跌落測(cè)試 | MIL-STD-810F 4.5.5程序IV - Transit Drop |
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工作溫度 | -10°C至50°C |
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電池存儲(chǔ)溫度 | 0°C至50°C |
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渠道規(guī)范
EPOCH 1000i相控陣規(guī)范
焦點(diǎn)低 | 60 |
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物理探測(cè) | 16個(gè)元素 |
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虛擬探測(cè)器 | 16個(gè)元素 |
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視頻過(guò)濾 | 關(guān),低,高 |
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顯示模式 | A - 掃描,S - 掃描,E - 掃描,C - 掃描,A - 掃描+圖像(S,E,C) |
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圖像更新速度 | A - 掃描屏幕,60 Hz / S - 掃描屏幕,20 Hz |
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脈沖星規(guī)格
| 一般超聲波檢測(cè)模式 (傳統(tǒng)UT模式) | 相控陣檢測(cè)模式 (PA模式) |
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脈沖式 | 可調(diào)矩形波 |
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PRF | 每5 Hz增量為5 Hz至6000 Hz | 手動(dòng)調(diào)節(jié),高1520 Hz |
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電壓設(shè)定 | 50 V至475 V,增量為25 V. | 40 V或80 V. |
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脈沖寬度 | 可通過(guò)PerfectSquare功能在25 ns至5,000 ns(0.1 MHz)范圍內(nèi)調(diào)節(jié) | 使用PerfectSquare功能可在40 ns至1000 ns范圍內(nèi)調(diào)節(jié) |
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減震 | 50,100,200,400Ω | 無(wú) |
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脈沖發(fā)生器延遲 | 無(wú) | 0μs至10μs,分辨率2.5 ns |
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接收器規(guī)范
| 一般超聲波檢測(cè)模式 (傳統(tǒng)UT模式) | 相控陣檢測(cè)模式 (PA模式) |
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收益 | 0至110 dB | 0至80 dB |
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大輸入信號(hào) | 20 Vp-p | 每通道250 mVp-p |
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接收器輸入阻抗 | 400Ω±5% | 50Ω±10% |
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接收器帶寬 | 0.2至26.5 MHz @ -3 dB | 0.5至12.5 MHz @ -3 dB |
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接收器延遲 | 無(wú) | 0μs至10μs,分辨率2.5 ns |
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數(shù)字濾波器設(shè)置 | 標(biāo)準(zhǔn)過(guò)濾器(符合EN12668-1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)):7過(guò)濾器 高性能過(guò)濾器(未測(cè)試EN 12668-1):30過(guò)濾器 | 6過(guò)濾器 (通過(guò)探頭自動(dòng)設(shè)置) |
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波形顯示 | 全波,加半波,負(fù)半波,射頻 |
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拒絕 | 0%至80%(全屏高度,警告顯示) |
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幅度線性 | FSH 0%至110%,分辨率0.25% |
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校準(zhǔn)規(guī)范
| 一般超聲波檢測(cè)模式 (傳統(tǒng)UT模式) | 相控陣檢測(cè)模式 (PA模式) |
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自動(dòng)校準(zhǔn) | ·聲速,零點(diǎn)校正 ·垂直光束(初始底部反射或回波到回波) ·斜面光束(光束路徑或深度) | ·聲速,零點(diǎn)補(bǔ)償,靈敏度 ·光束路徑長(zhǎng)度或深度(零點(diǎn)校正) |
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測(cè)試模式 | 脈沖回聲,雙重,透明 | 脈沖回聲 |
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單位 | mm,in?;?mu;s |
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測(cè)量范圍 | 1.86毫米至25,400毫米 | 焦距大為762 mm ×30 |
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聲速 | 635米/秒至15,240米/秒 |
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零補(bǔ)償 | 0μs至750μs | 無(wú) |
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顯示延遲 | -59毫米至25,400毫米 | 0到大范圍 |
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折射角度 | 0°至85°,增量為0.1° | 增量為0.5°,60個(gè)焦點(diǎn)行 |
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門(mén)規(guī)格
| 一般超聲波檢測(cè)模式 (傳統(tǒng)UT模式) | 相控陣檢測(cè)模式 (PA模式) |
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測(cè)量門(mén) | 兩個(gè)獨(dú)立的門(mén)(幅度和飛行時(shí)間測(cè)量) |
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接口門(mén) | 跟蹤1號(hào)門(mén)和2號(hào)門(mén)(可選) | 無(wú) |
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門(mén)開(kāi)始位置 | 根據(jù)所有顯示范圍變化 |
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門(mén)寬 | 根據(jù)門(mén)的起始位置和顯示范圍而變化 |
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門(mén)高 | 可變的2%至95%FSH |
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報(bào)警 | •正/負(fù)閾值 •小深度 •具有LOS的可選IF門(mén) | ·正/負(fù)閾值(的聚焦法) ·小深度(的聚焦法) |
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參考光標(biāo) | A - 掃描參考光標(biāo)×2 | A - 掃描參考光標(biāo)x 2;圖像參考光標(biāo)x 4 |
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測(cè)量規(guī)范
| 一般超聲波檢測(cè)模式 (傳統(tǒng)UT模式) | 相控陣檢測(cè)模式 (PA模式) |
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測(cè)量顯示位置 | 可以放置6個(gè)(手動(dòng)或自動(dòng)選擇) |
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門(mén)1 | 厚度,光束路徑長(zhǎng)度,距離,深度,幅度,飛行時(shí)間,深度 - 小值/大值,幅度 - 小值/大值 |
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2號(hào)門(mén) | 與門(mén)1相同 |
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IF門(mén)(可選) | 板材厚度 |
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回聲回聲 | 選擇門(mén)2 - 1,門(mén)2 - IF,門(mén)1 - IF | 無(wú) |
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其他測(cè)量 | DGS / AVG超調(diào)值(dB),DGS / AVG FBH(等效反射源尺寸),AWS D1.1 / D1.5等級(jí)(D),拒絕值 |
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DAC / TVG | 標(biāo)準(zhǔn) |
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DAC點(diǎn) | 高達(dá)50點(diǎn),動(dòng)態(tài)范圍110 dB | 多20個(gè)點(diǎn),每個(gè)角度動(dòng)態(tài)范圍40 dB |
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特殊DAC模式 | 20%至80%DAC,定制DAC(多6條曲線) | 無(wú) |
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TVG表 | 多50個(gè)點(diǎn),動(dòng)態(tài)范圍110 dB,對(duì)應(yīng)于所有PRF設(shè)置,門(mén)IF | 多20個(gè)點(diǎn),每個(gè)角度動(dòng)態(tài)范圍40 dB |
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曲面修正 | 標(biāo)準(zhǔn)安裝折射角測(cè)量的ID / OD校正 |
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輸入/輸出規(guī)范
輸入/輸出規(guī)范
USB端口 | 1個(gè)USB客戶(hù)端,2個(gè)USB主機(jī)(USB 1.1) |
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RS-232 | ○ |
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視頻輸出 | VGA輸出標(biāo)準(zhǔn)安裝 |
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模擬輸出 | 模擬輸出×4,1 V / 10 V滿(mǎn)量程可選,大4 mA |
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報(bào)警輸出 | 報(bào)警輸出×6,5 V TTL,10 mA |
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觸發(fā)I / O. | 觸發(fā)輸入5 V TTL;觸發(fā)輸出,5 V TTL,10 mA |
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編碼器輸入 | 2軸編碼器線(矩形),*常規(guī)UT |
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組件
標(biāo)準(zhǔn)組件 | 體(EPOCH1000i /電池內(nèi)部),5L16-9.6×10-A10P-P-2.5-OM探針,楔子(垂直/ SA10P-OL),楔(斜切/ SA10P-N55S),AC適配器集(PAA060M / AC適配器,電源線),耦合劑,Gage的視圖Pro軟件(CD-R),USB電纜(AB),存儲(chǔ)的情況下,指令手冊(cè)(EPOCH1000i),使用說(shuō)明書(shū)(用于軟件),屏幕捕獲程序·PA DAC步驟來(lái)創(chuàng)建·角度校準(zhǔn)(EPOCH 1000 i) |
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可選項(xiàng)目
UT實(shí)用測(cè)試選項(xiàng) | 超聲波探傷儀探頭套件 | 5C20N,5C1010A70(各為1,垂直探針,角度探測(cè)器 電纜(LEMO大?小LEMO)) |
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NDI實(shí)用測(cè)試探針組 | 5C20N,5C1010A70(每個(gè)1個(gè),垂直探頭/斜面探頭 電纜(LEMO大到LEMO?。?/span> |
NDI實(shí)用試樣 | STB-A1,STB-N1(每個(gè)1個(gè)) |
NDI實(shí)用試樣 | 機(jī)頂盒 - A 2(塑料件) |
UT級(jí)2實(shí)用測(cè)試件 | SV 3,TA 4,RB 41(每個(gè)1個(gè)) |
UT 1級(jí)垂直·斜角試樣 | 1 V 4,SA 2(每個(gè)1個(gè)) |