相控陣超聲波探傷儀Phasor XS1664 GE檢測(cè)
USM 35X JE，奧林巴斯OLYMPUS超聲波探傷儀EPOCH XT 無損檢測(cè)機(jī)，數(shù)字超聲波探傷儀UI-25 無損檢測(cè)機(jī)，超聲波探傷儀EPOCH 650 奧林巴斯，SIO-3000裂縫探傷焊縫板材鋼管鑄造缺陷探傷儀，鋼板內(nèi)部缺陷探傷機(jī)JUT500裂紋氣孔 /金屬內(nèi)部檢測(cè)儀/ EPOCH 600裂紋檢測(cè)儀/leeb520數(shù)字式超聲波探傷儀 ,USM 36鑄鐵內(nèi)部缺陷鋼管焊縫超聲波探傷儀,壓力容器管.EPOCH 650復(fù)合材料分層。數(shù)字式超聲波探傷儀SUB110鍛件 焊縫。超聲波探傷儀USM 36 DAC GE傳感與檢測(cè)技術(shù)無損檢測(cè)機(jī)
相控陣超聲波探傷儀Phasor XS 16/16（GE傳感與檢測(cè)技術(shù)）：超聲波探傷儀：無損檢測(cè)機(jī)
快速檢測(cè)相控陣模式下的劃痕。它是16元素類型。
快速檢測(cè)相控陣模式下的劃痕，用一個(gè)按鈕切換到一般測(cè)試模式，并可根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢查。通過使用兩種模式，我們可以減少工時(shí)，提高日常檢查效率。
使用DM選項(xiàng)功能可以進(jìn)行厚度測(cè)量。
| 型號(hào)名稱 | 相控陣超聲波探傷儀 |
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| 型號(hào) | PhasorXS 16/16 |
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| 制造商名稱 | GE傳感與檢測(cè)技術(shù) |
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NDI實(shí)用測(cè)試探針套裝（5C20N，5C10×10A70）
NDI實(shí)際測(cè)試用試件（STB-A1，STB-N1）
用于NDI實(shí)際測(cè)試的試件（STB-A 2（塑料件））
實(shí)用的UT 2級(jí)試驗(yàn)片（SV 3，TA 4，RB 41,42）
UT 1級(jí)垂直/斜角測(cè)試件（1 V 4和SA 2）
※訂購/預(yù)估時(shí)請(qǐng)與我們聯(lián)系。
特點(diǎn)
- 重量輕，便攜式設(shè)計(jì)，重量不到3.8千克
- 通過簡(jiǎn)單的操作，從一般的探傷到相控陣的平滑遷移
- 堅(jiān)固的機(jī)身，可在惡劣環(huán)境下使用
- 全彩扇形掃描（可選范圍顯示）
- 可以保存扇形掃描，示波器顯示，B示波器顯示，測(cè)量值，設(shè)置數(shù)據(jù)
- 可以使用SD存儲(chǔ)卡移動(dòng)JPEG圖像和數(shù)據(jù)集
- 具有脈沖延時(shí)自動(dòng)計(jì)算功能
一般探傷模式的主要特點(diǎn)
- 配備JIS-DAC功能（符合JIS Z 3060-2002）和J-Frank功能
- DAC / TCG功能允許檢測(cè)符合ASME等標(biāo)準(zhǔn)
- 安裝DGS功能
- 配備傾斜角度跳躍點(diǎn)識(shí)別顯示功能
相控陣模式的主要特點(diǎn)
- 扇形掃描（+/-）
- 線性掃描
- 在TCG功能中，可以為每個(gè)焦點(diǎn)行設(shè)置TCG曲線
- 使用TopView功能可以顯示門的幅度和時(shí)間（*16/64）
- 光標(biāo)不能在凍結(jié)狀態(tài)下使用，可以測(cè)量尺寸和位置
相控陣換能器
| 產(chǎn)品代碼 | 尺寸
（mm） | 頻率
（MHz） | 元素?cái)?shù)量 | 間距
（mm） | 高度
（mm） | 電纜長度 | 楔形部門 | 楔形線性 |
|---|
| 115-500-012 | 8×9 | 2 | 8 | 1 | 9 | 2米 | 118-350-024 | 118-350-036 |
Phasor XS-DM可選功能 -
Phasor XS的DM選項(xiàng)功能可使用雙陣列探頭進(jìn)行腐蝕檢測(cè)。*我們?cè)诶卓怂箻?biāo)準(zhǔn)附件。
通過增加DM可選功能，可以執(zhí)行一般的探傷，相控陣探傷和一個(gè)單位的厚度測(cè)量。
DM選項(xiàng)功能的主要特點(diǎn)
- 與傳統(tǒng)的探傷儀和厚度計(jì)相比，各種雙陣列探頭大大提高了腐蝕檢測(cè)率
- 可以顯示每個(gè)光束的小厚度值，顯示期間的小厚度值，掃描后的小厚度值
- 厚度測(cè)量數(shù)據(jù)可以CSV格式保存在SD卡中
- E示波器顯示和B示波器可以檢查回聲（僅在使用俯視圖時(shí)）
- 可以進(jìn)行深度校準(zhǔn)（2點(diǎn)校準(zhǔn)）
雙陣列探頭
雙陣列探頭適用于腐蝕檢測(cè)和厚度測(cè)量，因?yàn)樗鼈兙哂薪嚯x分辨率和寬范圍掃描能力。我附上一個(gè)全長類型作為標(biāo)準(zhǔn)。
全長型（115-000 - 765）
- 5 MHz，32個(gè)元件，1.5 mm間距
- 28或30個(gè)虛擬探頭（孔徑3或5個(gè)元件）*，大44 mm
- 短程分辨率高，可掃描范圍廣
※SD卡提供兩個(gè)數(shù)據(jù)集文件（自定義POP）。
- 短距離分辨率：1.9 mm（使用四個(gè)1.5 mm刻度底孔測(cè)量時(shí)）
- 測(cè)量范圍：1.9 mm至25.4 mm（鋼）
- 帶可拆卸防磨條
- 電纜長度2米
相控陣超聲波探傷儀Phasor XS1664 GE檢測(cè)
常見問題
與傳統(tǒng)的探傷儀有什么不同？
雖然傳統(tǒng)的探傷儀是用超聲波線捕獲內(nèi)部劃痕的圖像，但是相控陣是在橫截面中捕獲的圖像。
只需放置探頭，就可以立即對(duì)其下方幾十度的范圍進(jìn)行成像，并立即了解疤痕的位置。
它經(jīng)常用于在長時(shí)間無法工作的環(huán)境下進(jìn)行廣泛的探傷和探傷。
組件
| 標(biāo)準(zhǔn)組件 | 體（PhasorXS（16/16）/內(nèi)置電池），SD卡（2GB /體預(yù)裝），探針（115-500-013 /4MHz0.5㎜間距16EL9㎜EVL），楔（118-350-036 /垂直），楔（118-350-024 /傾斜），雙陣列探頭（115-000-765 / 5MHz32元件1.5毫米間距），雙陣列探頭連接器帽（已連接到探針）雙陣列探頭SD卡（2GB），六角螺絲刀，十字螺絲刀，LEMO-肘LEMO電纜，讀卡器，存儲(chǔ)的情況下，說明書 |
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可選項(xiàng)目
| UT實(shí)用測(cè)試選項(xiàng) | NDI實(shí)用測(cè)試探針組（5C20N，5C10×10A70）
NDI實(shí)用試驗(yàn)片（STB-A1，STB-N1）
NDI實(shí)用試驗(yàn)片（STB-A2（塑料片））
UT 2級(jí)為實(shí)用試樣（SV3，TA4，RB41,42）
UT級(jí)別1的垂直和斜角試樣（1V4＆SA2） |
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| 選項(xiàng) | 超聲波探傷儀探頭套件（5C20N，5C10×10A70） |
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對(duì)于工業(yè)內(nèi)窺鏡，您可以從微小的間隙接近內(nèi)部物體，并用肉眼觀察。
一種薄膜厚度計(jì)，用于測(cè)量施加在基底上的涂層的厚度。對(duì)于磁性材料和非磁性材料，存在用于電磁型的高頻型。
內(nèi)管檢查攝像機(jī)可以通過插入的攝像機(jī)檢查埋設(shè)管道是否有缺陷部件，例如破損和堵塞。
通過使用聲音泄漏檢測(cè)器可以有效地執(zhí)行漏水檢測(cè)。
工業(yè)視頻范圍IPLEX FX視頻范圍的
型號(hào)實(shí)現(xiàn)了高的圖像質(zhì)量
數(shù)字式超聲波探傷儀
UI-25
將在相應(yīng)的模型的各種協(xié)會(huì)認(rèn)證考試，如日本非破壞檢查協(xié)會(huì)
超聲波探傷儀
EPOCH 4
※完成了處理。
手持式熒光X射線分析儀DELTA PREMIUM
完整的防塵和防濺規(guī)格，適用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量
