MC-2000C大量程分體式涂層測(cè)厚儀主要用于測(cè)量0-5000um鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。較薄可測(cè)試0.5mm基體厚度的涂層。

MC-2000C大量程分體式涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品介紹

MC-2000C大量程分體式涂層測(cè)厚儀主要用于測(cè)量0-5000um鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。薄可測(cè)試0.5mm基體厚度的涂層。

MC-2000C涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)

1.分體式探頭，可測(cè)量小曲率半徑：凸:1.5mm      凹:6mm

2.儀器可存儲(chǔ)600個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)，通過(guò)USB接口，數(shù)據(jù)一鍵上傳，方便后續(xù)分析

3.堅(jiān)硬耐磨探頭

4.塑料箱包裝，保證安全運(yùn)輸

5.帶有標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)膜片

MC-2000C涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍：0~5000um

測(cè)量誤差：<3%±1um

小示值：1um

顯示方式：4位液晶數(shù)字顯示

電源：兩節(jié)1.5v電池

功耗：大功耗100mw

外形尺寸：126mm *51mm *27mm

重量：　160g（含電池）

使用環(huán)境溫度：0℃~+40℃  相對(duì)濕度：不大于90%

珠海天創(chuàng)儀器有限公司承諾：
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