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(BrukerAX 掃描探針/
BioScopeCa 原子力/檢
DimensionE 原子力/檢
ContourGT光學輪廓儀
TXP精研一體機
LeicaEMUC7超薄切片機
Contour GT 系列光學輪廓儀利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌,并且具有業(yè)界Z大視場下的Z高垂直分辨率。
Bruker Contour GT 系列光學輪廓儀
Bruker Contour GT 系列
掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡SU3500
電子顯微鏡樣品制備Le
日本ygkcop光學視覺檢
日本ygkcop玻璃基板/
日本ygkcop藍寶石表面
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