GDAT-A 高頻介電常數介質損耗電容率測試儀
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- 公司名稱 北京北廣精儀儀器設備有限公司
- 品牌
- 型號 GDAT-A
- 所在地 北京市
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2021/4/27 14:59:40
- 訪問次數 531
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高頻介電常數介質損耗電容率測試儀 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
高頻介電常數介質損耗電容率測試儀 滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
高頻介電常數介質損耗電容率測試儀 技術指標及特點:
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c.標稱誤差
頻率范圍20kHz~10MHz;
固有誤差≤5%
工作誤差≤7%
頻率范圍10MHz~60MHz;
固有誤差≤6%
工作誤差≤8%
2.電感測量范圍:14.5nH~8.14H
3.介電常數介質損耗試驗儀電容測量:1~ 460
直接測量范圍 1~460pF
主電容調節(jié)范圍
準確度 30~500pF 150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%
注:大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則
4.介電常數介質損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍10kHz~50MHz
頻率分段(虛擬)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
5. 電感:
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
6.雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
7.雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
8.雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
9.自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
10.全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
11.DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
12.計算機自動修正技術和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低,治療 Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
特點:
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術,使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
電橋的振蕩器和檢測器
1 交流電壓源
滿足 總諧 波分量小于 1%的電壓和電流的任一電壓源。
.2 檢測器
下 列 各 類檢測器均可使用,并可以帶一個放大器以增加靈敏度:
1) dian 話(如需要可帶變頻器);
2) 電 子電壓表或波分析器;
3) 陰極 射線示波器;
4) “電 眼”調節(jié)指示器;
5) 振 動 檢流計(僅用于低頻)。
在 電橋 和檢測器中間需加一個變壓器,用它來匹配阻抗或者因為電橋的一輸出端需接地
諧波 可 能 會掩蓋或改變平衡點,調節(jié)放大器或引人一個低通濾波器可防止該現象 對測量頻率的
二次諧波有40 dB的分辨率是合適的
電氣絕緣材料的性能和用途
1、電介質的用途
電介質一般被用在兩個不同的方面:
用作電氣回路元件的支撐,并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣;
用作電容器介質
2、影響介電性能的因素
下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強度對介電性能的影響。
2.1頻率
因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內它們的 。r和 tans幾乎是恒定的,且被用作工程電介質材料,然而一般的電介質材料必須在所使用的頻率下測量其介質損耗因數和電容率。
電容率和介質損耗因數的變化是由于介質極化和電導而產生,重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的界面極化所引起的.
2.2溫度
損耗指數在一個頻率下可以出現一個大值,這個頻率值與電介質材料的溫度有關。介質損耗因數和電容率的溫度系數可以是正的或負的,這取決于在測量溫度下的介質損耗指數大值位置。
2.3濕度
極化的程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加,其結果使電容率、介質損耗因數和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環(huán)境濕度進行控制是*的.
注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在 1MHz以下及微波頻率范圍內
2.4電場強度
存在界面極化時,自由離子的數目隨電場強度增大而增加,其損耗指數大值的大小和位置也隨此而變。
在較高的頻率下,只要電介質中不出現局部放電,電容率和介質損耗因數與電場強度無關
工式:
介質損耗因數 dielectric dissipation factor
tanδ損耗角δ的正切。
〔介質〕損耗指數
ε〃r
該材料的損耗因數tanδ與相對電容率εr的乘積
復相對電容率complex relative permittivi
εr 由相對電容率和損耗指數結合而得到的:
εr = ε'r - jε〃r ----------(3)
ε〃r = εr ----------(4)
ε〃r = εr ----------(5)
ε〃r
Tanδ = -- ----------(6)
ε'r
式中:
εr -------- 復相對電容率;
ε〃r-------- 損耗指數;
ε'r、εr -------- 相對電容率;
介電常數測試儀由BH916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。
《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件,它由一個LCD數字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化,測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新換代產品,精密的加工設計、精確的LCD數字讀出、一鍵式清零功能,克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。
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