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Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀采用先進的設計理念優(yōu)化結構設計，充分有效地融合了動態(tài)光散射（DLS）和電泳光散射（ELS）技術，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位。
Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀
產品介紹：
Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術的 NiComp 無約束自由擬合多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢，其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產品*的。
Nicomp 380 ZLS通過檢測分析膠體顆粒的電泳遷移率測量Zeta電位。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量，是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標，Zeta電位(正或負)越高，體系越穩(wěn)定。整機采用模塊化設計，功能擴展靈活方便。*的樣品池設計使得進樣方便快捷、用樣量少，無須進行繁瑣的樣品池校準。
工作原理：
動態(tài)光散射法(DLS)：有時稱為準彈性光散射法(QELS)，是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用技術，粒度可小于1nm。 動態(tài)光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。 分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。
儀器參數(shù)：
粒徑測量范圍 | 粒度分析：0.3 nm – 6μm Zeta電位：1nm – 30μm |
分析方法 | 粒度分析：動態(tài)光散射，Gaussian 單峰算法 和 NiComp 無約束自由擬合多峰算法 Zeta電位：電泳激光多普勒法 |
pH值范圍 | 2 - 12 |
電導率 | 10-5 – 0.2 S/m |
溫度范圍 | 0℃ - 90 ℃ |
檢測角度（可選） | 粒度分析：90°或 多角度（10°- 175°，可選配） Zeta電位：19° |
高濃度樣品背散射 | 175°背散射 |
可用溶劑 | 水和絕大多數(shù)有機溶劑 |
樣品池 | 4 mL（標準，石英玻璃或有機玻璃）； 500μL（玻璃，一次性）； 10 μL（高透光率微量樣品池） |
分析軟件 | Windows 運行環(huán)境，符合 21 CFR Part 11 規(guī)范分析軟件 |
電壓 | 220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz |
外形尺寸 | 56 cm * 41 cm * 24cm |
重量 | 約28kg（與配置有關） |
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