產品體積小，便于移動和攜帶
無接觸體電阻率型號測試儀采用渦流法測試硅錠、棒、回爐料體電阻率
無接觸、無損傷快速測試
測試前無需表面處理
津對于多晶，能夠有效避免晶界對測試的影響

無接觸體電阻率型號測試儀

無接觸體電阻率型號測試儀產品簡介：
無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
無接觸式電阻率型號測試儀-產品特點
測試范圍廣，低阻可測至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm,高阻可測至100ohm.cm
產品體積小，便于移動和攜帶
采用渦流法測試硅錠、棒、回爐料體電阻率
無接觸、無損傷快速測試
無接觸體電阻率型號測試儀測試前無需表面處理
津對于多晶，能夠有效避免晶界對測試的影響
測試范圍：0.001-100 ohm.cm （分段測試）
可選加無接觸PN型號測試功能
可進行溫度和厚度的修正
無接觸式電阻率型號測試儀-技術指標
硅棒硅塊可測量電阻率范圍：0.001-100Ohm.cm
*小測試厚度：200μm
測量時間：2秒/次
*小測試面積：30x30 mm2
推薦使用溫度：20℃
濕度：≤80%
氣壓：86-106kPa
使用電壓：230±10V
頻率，50±3Hz
功率消耗：≤5W
尺寸（LxH）：280x200x60mm