賽默飛 ELEMENT2/XR 電耦合等離子體質(zhì)譜儀利用高分辨率直接分析有干擾的同位素；的確信不含干擾的元素圖譜；瞬時信號的多元素檢出器；并能與多種進樣和分離技術(shù)聯(lián)用，例如激光進樣。目前，已經(jīng)安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺，服務于環(huán)境監(jiān)測、核科學、地球科學、材料科學等各個領域。
賽默飛 ELEMENT2/XR 電耦合等離子體質(zhì)譜儀是獲得認可的痕量元素分析和定量的高效技術(shù)。 其應用范圍從半導體工業(yè)到地質(zhì)和環(huán)保分析、從生物研究到材料科學。 ICP-MS嚴重的限制是元素信號的多原子干擾，這種干擾主要來自氬或樣品基質(zhì)。 高質(zhì)量分辨率是識別和消除干擾的良好標準。 即使沒有樣品制備步驟，消除干涉也能準確可靠地進行痕量級多元素定量分析。
ELEMENT XR主要特點：
●線性范圍寬：線性范圍達12個數(shù)量級，不同模式自動切換校正；
●靈敏度高：可使用賽默飛全新的Jet接口技術(shù)，提供的靈敏度；
●具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素。
ELEMENT 2主要特點：
1、具備多元素分析能力
●多元素檢測器具備處理瞬態(tài)信號（包括CE、HPLC、GC、FFF和激光燒蝕）的速度
●從超痕量到基質(zhì)組分、從mg/L到亞pg/L濃度范圍的覆蓋周期表的無干擾測量
●與無機和有機固體以及幾乎所有溶液基質(zhì)兼容
2、全自動的常規(guī)分析
●自動調(diào)節(jié)所有參數(shù)，包括透鏡、氣流和炬位，以獲得可重復而可靠的系統(tǒng)設置
●全面、可定制的質(zhì)量控制系統(tǒng)
●可靠耐用，可作為全年無休的生產(chǎn)控制工具，大化樣品通量
3、具有靈活性和易用性的*研究工具
●擁有權(quán)限進入方法開發(fā)的所有儀器參數(shù)
●具有高質(zhì)量分辨率，可識別受干擾的同位素光譜： 生成明確的元素光譜
●無論是否存在干擾情況，也能獲得高精度的同位素比檢測
●熱和冷等離子體狀態(tài)
●高穩(wěn)定性的同位素比
