北京華測(cè)耐電弧測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
北京華測(cè)耐電弧測(cè)試系統(tǒng)是根據(jù) GB/T 1411-2002《固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電的試驗(yàn)》（等同 IEC 61621-1997）及 ASTM D495 等標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計(jì)制造的，并符合 IEC 149、UL 746A 等試驗(yàn)方法。本儀器（硅橡膠耐電弧試驗(yàn)儀）由絕緣標(biāo)準(zhǔn)制定單位國(guó)內(nèi)絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)監(jiān)制。主要用于電機(jī)、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆、以及層壓板、覆銅箔板等絕緣材料的耐電弧性能及其分級(jí)評(píng)定。
HCDH-4耐電弧試驗(yàn)系統(tǒng)是專門為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備，適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測(cè)試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質(zhì)的能力，通常用標(biāo)準(zhǔn)電弧焰在材料表面引起炭化至表面導(dǎo)電而電弧消失所需時(shí)間表示，單位是秒。為在板狀試樣上加上兩個(gè)分開一定距離的鎢電極，視需要以工頻高壓小電流在兩極間產(chǎn)生電弧。起初是間歇時(shí)間逐漸縮短，末后為連續(xù)電弧且逐漸加大電流，材料經(jīng)受逐漸苛刻的電弧條件結(jié)果造成破壞。耐電弧性對(duì)用于高壓開關(guān)或低壓大電流開關(guān)的絕緣材料有重要意義，因?yàn)樵陂_關(guān)啟閉時(shí)常會(huì)受到電弧作用，只有耐電弧性好的材料才能被選用。
HCDH-4 系統(tǒng)采用自主開發(fā)先進(jìn)的TVS高壓防護(hù)系統(tǒng)，保證試驗(yàn)人員及設(shè)備的安全性；采用先進(jìn)的的SPWM 電子升壓技術(shù)，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備電壓、電流傳感器以保證試驗(yàn)數(shù)據(jù)的有效性。
國(guó)家zhuan利號(hào):CN201621035931.6
主要用戶有：西門子避雷器、中國(guó)航發(fā)、中國(guó)電科院、西安交大，南方電網(wǎng)、中國(guó)航發(fā)等！
HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) hacepro ,采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合電氣絕緣材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備高壓的穩(wěn)定性與安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)，支持新的標(biāo)準(zhǔn)。兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。
友善的使用介面
█ 多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
█ 即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無須等待；
█ 圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，易看易懂易了解，立即對(duì)狀態(tài)說明，了解測(cè)試狀態(tài)；
█ 使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；
█ 故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
性能特點(diǎn)
1 本產(chǎn)品采用智能控制技術(shù)，通過選擇程序（IEC或 ASTM）可自動(dòng)進(jìn)行試驗(yàn)，并在工業(yè)觸摸屏顯示試驗(yàn)過程和結(jié)果。
2 控制系統(tǒng)采用西門子的 PLC和觸摸屏通信進(jìn)行控制。
3 安全性能良好，抗干rao能力強(qiáng)，測(cè)試精度高。
4 自動(dòng)化程度高，按照設(shè)定的試驗(yàn)要求，自動(dòng)升壓到設(shè)定的電壓后，自動(dòng)完成試驗(yàn)并自動(dòng)歸零。
5 電壓和電流具有自動(dòng)校驗(yàn)功能，方便計(jì)量和校準(zhǔn)
技術(shù)參數(shù)
1 電弧通斷時(shí)間誤差：小于 ±1ms
2 調(diào)壓器容量：1kVA 變壓器：1KVA，0-20KV
3 額定試驗(yàn)電壓：12.5kV
4 試驗(yàn)電壓精度：1%
5 電流控制精度：±1% 電流測(cè)量精度：1.5%
6 電極對(duì)試樣壓力：（0.5±0.05）N
7 電極材料：鎢棒
8 電極距離：（6.35±0.1）mm（IEC）（6.0±0.1）mm（ASTM）
9 使用環(huán)境溫度：（23±2）℃
10 使用環(huán)境濕度：（50±5）%
11.輸入電壓交流 220V，輸出交流電壓 0-17.5KV
12.實(shí)驗(yàn)電流：10mA—20mA—30mA—40mA
13 電源：220V/ 50Hz
設(shè)計(jì)要點(diǎn)
█ TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)：
耐電弧試驗(yàn)儀采用的光耦隔離方式，同時(shí)配置TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，對(duì)于電弧放電過程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)，將起到對(duì)控制系統(tǒng)的周密防護(hù)。
█ 多級(jí)循環(huán)采集技術(shù)：
華測(cè)自主開發(fā)的多級(jí)循環(huán)電壓采集方式，大大提高目前電弧試驗(yàn)普遍采用手動(dòng)及干擾狀態(tài)下電壓及電流采集方式。
█低通濾波監(jiān)測(cè)技術(shù):
材料耐電弧試驗(yàn)在10-40mA電流下進(jìn)行，強(qiáng)大的電磁干擾不僅影響試驗(yàn)精度，同時(shí)也造成通訊中斷等一系列問題。為更好解決這一難題，華測(cè)將低通濾波技術(shù)在電弧試驗(yàn)儀器運(yùn)用。
判斷絕緣體失效的方法：
試驗(yàn)的結(jié)果是以秒表示的失效時(shí)間。
注：許多材料常常是在嚴(yán)酷程度發(fā)生變化后的開頭幾秒內(nèi)失去抵抗能力的.當(dāng)對(duì)材料的耐電弧作比較時(shí)，兩者差異處于兩個(gè)階段交替的那幾秒要比處于單個(gè)階段內(nèi)所經(jīng)過的相同的那幾秒時(shí)間重要的多。因此，耐電弧在178 s 與182 s之間和耐電弧在174 s與178 s之間兩者存在著很大的差異。
四種通常失效類型：
1.由于許多無機(jī)電介質(zhì)變成白熱狀態(tài)，致使它們變成能夠?qū)щ?。然而，?dāng)冷卻時(shí)，它們又恢復(fù)到其原先絕緣狀態(tài)。
2.某些有機(jī)復(fù)合物突然發(fā)生火焰，但在材料內(nèi)不形成明顯的導(dǎo)電通道。
3.另外一些材料可見到因漏電起痕而導(dǎo)致失效，即當(dāng)電弧消失時(shí)，在電極間形成一條細(xì)金屬絲似的線。
4. 第四種類型是表面發(fā)生碳化直至出現(xiàn)足夠的碳而形成導(dǎo)電。
試驗(yàn)程序
1.測(cè)定耐電弧時(shí)，置試樣于電極裝置內(nèi)并調(diào)節(jié)電極間距至6.35 mm士0.1 mm。
2.接通試驗(yàn)回路并觀察起始電弧、漏電起痕進(jìn)展和被試材料的任何奇特現(xiàn)象。如果任何試驗(yàn)階段的笫一次試驗(yàn)進(jìn)展正常，則隨后的試驗(yàn)就不必再仔細(xì)觀察。
警告:在觀察電弧過程中，操作者要配戴防紫外線眼鏡或應(yīng)用紫外線遮護(hù)板。
觀察起始電弧以便確定它是否仍然保持平的且緊靠試樣表面6如果電弧頂部處于試樣表面上方約 2 mm或者電弧爬向電極上方而不再保持在電極*處或者發(fā)生不規(guī)則的閃爍，則表明回路常數(shù)不正 確或者材料正在以極大速率釋放出氣體產(chǎn)物。
3.每次1 min試驗(yàn)結(jié)束時(shí)，電弧嚴(yán)酷程度將按表1所示順序增加，直至發(fā)生失效。失效【當(dāng)被試材料內(nèi)形成導(dǎo)電通道時(shí)，認(rèn)為材料已經(jīng)失效。如果電弧引起某一材料燃燒和當(dāng)電弧被切斷后材料還繼續(xù)燃燒，則也認(rèn)為材料已經(jīng)失效。注1:當(dāng)電弧放電因深入材料內(nèi)部而消失時(shí)，問路電流通常會(huì)發(fā)生變化且聲音發(fā)生明顯改變。注2:對(duì)某些材料，在電極間電弧全部熄滅前，在相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間范圍內(nèi)，朝失效發(fā)展的趨勢(shì)增加，僅當(dāng)所有電弧已熄滅才發(fā)生失效。注3:對(duì)某些材料，在電弧已經(jīng)熄滅之后，在靠近電極處可能觀察到持續(xù)的火花。不應(yīng)該把這種火花視為屬于電弧部分。注4:如果在電弧中斷期間材料繼續(xù)燃燒，則材料的這種伴隨電弧而發(fā)生的燃燒，只能視為失效。在其他情況下，繼續(xù)試驗(yàn)下去直至形成導(dǎo)電通道。注5:即使材料以后又恢復(fù)電弧放電，仍然以整個(gè)電弧的*熄滅為失效。】時(shí)，應(yīng)立即切斷電弧電流并停止記時(shí)。記錄5次試驗(yàn)的每一次到達(dá)失效的時(shí)間（s)。
