XRF6C能量射線熒光分析儀特點
（注）：X射線熒光（XRF）分析法是測定有初級X射線激發(fā)樣品時所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可以對試樣進行多元素快速分析。

主要特點： 

. 準確測定黃金、鉑金、銀飾品中的金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳、銥等元素含量，根據(jù)定義 給出符合國標 GB/T18043 要求的測試結(jié)果； 

. 自動識別樣品類型，自動切換不同類型首飾樣品的測試模式； 

. 儀器內(nèi)置標準樣品，具備自動校正功能，開機自動完成能量刻度、標準曲線校正、預熱一系 列動作，免除人為操作帶來的誤差和錯誤； 

. 一鍵式測試操作，開啟軟件并放入樣品后，按下一鍵即可完成測試獲得結(jié)果，免除所有繁瑣 復雜的手工設(shè)置和操作； 

. 具備高級自定義測試功能，開放各種參數(shù)調(diào)試調(diào)整，可建立自定義標準曲線，可保存或?qū)?導出自定義的數(shù)據(jù)庫和測試模式。

1.XRF6C能量射線熒光分析儀特點

（注）：X射線熒光（XRF）分析法是測定有初級X射線激發(fā)樣品時所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可以對試樣進行多元素快速分析。

• *多光束可調(diào)系統(tǒng)；

• 高分辨率SDD 硅漂移探測器；

• 快速定性分析；

• 完善的輻射安全防護；

• RoHS/WEEE 指令元素快速分析；

•  內(nèi)標法與基本參數(shù)法組成強大定量分析方法群；

•  內(nèi)置各類標準樣品曲線數(shù)據(jù)庫。

2.XRF6C能量射線熒光分析儀參數(shù)

• 元素分析范圍：AI-U

•  含量分析范圍：1ppm~99.99%

• 重復性：＜5%

• 測量時間：一般60~300s

•  測量對象：塊狀物體、粉末、液體

•  激發(fā)功率：50W

• 探測器分辨率：149gev

• 輸入電源：AC110V/220V

•  高壓電源：0~50kv/0~1mA

• X射線輻射劑量：≤1Sv/h

3.能量射線熒光分析儀部分元素 在低數(shù)值中可檢出

代表性元素120s可檢出限LOD(mg/kg)

性能指標