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HCTD-2000X 華測(cè)儀器鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)

參考價(jià) 8799
訂貨量 ≥1臺(tái)
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華測(cè)儀器鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強(qiáng)場(chǎng)介電性能、熱釋電系數(shù)、品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊,也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試;配合高低溫測(cè)試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料性能參數(shù)。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。

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華測(cè)儀器鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)

 

優(yōu)點(diǎn)

可測(cè)量壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù);

測(cè)量壓電材料介電性能-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試;

測(cè)量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測(cè)試

它可測(cè)量壓電陶瓷的品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)

可選配不同的測(cè)試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測(cè)試        

本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測(cè)

 

HCTD-2000x                                                

產(chǎn)品介紹

 

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

華測(cè)儀器鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強(qiáng)場(chǎng)介電性能、熱釋電系數(shù)、品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊,也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試;配合高低溫測(cè)試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料性能參數(shù)。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。為目前國(guó)內(nèi)研究壓電陶瓷材料鐵電材料較為全面的測(cè)試設(shè)備。模塊化設(shè)計(jì)具有的強(qiáng)大擴(kuò)展性。

設(shè)備內(nèi)置完整的工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等,包括工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i3 或更高)、RAM(4G 或更大)、硬盤(120G 固態(tài)硬盤)、網(wǎng)卡、USB 接口、VGA 接口、預(yù)裝Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀測(cè)試軟件等。

鐵電模塊測(cè)試功能

鐵電模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能:
動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率(0.001Hz~150kHz);
脈沖測(cè)試:小脈沖寬度2μs,小上升時(shí)間1μs;
疲勞測(cè)試,大頻率300kHz;
保持力測(cè)試;
靜態(tài)電滯回線測(cè)試;
印跡測(cè)試;
漏電流測(cè)試:1pA to 1A

高壓放大器模塊參數(shù)

高壓電源:DC~150kHz
輸出電壓: 1600Vp-p±800Vp(可選)
輸出電流:40mA
輸出波形:正弦波、三角波、梯形波等

壓電模塊測(cè)試功能

電容-電壓曲線、損耗曲線;
壓電性能測(cè)試(蝴蝶曲線、d33 曲線);
熱釋電性能測(cè)試;
e31、h31 測(cè)試;
靜態(tài)加載力條件下的測(cè)試;
測(cè)量范圍(D33):24000pC/N
測(cè)試頻率:20HZ-10M;
測(cè)試精度:0.05%
測(cè)量參數(shù):Cp/Cs、Lp/LsRp/Rs、|Z|、|Y|R、XG、Bθ、DQ、Vac、Iac
施力裝置:約4公斤


電滯回線和蝴蝶曲線

典型的PZT樣品的d33曲線

 

薄膜探針臺(tái)

(室溫測(cè)試)(可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測(cè)試)

薄膜變溫探針臺(tái)
(室溫到200℃)(可用于厚膜鐵電、壓電(d33)、熱釋電測(cè)試)

薄膜四探針探針臺(tái)

(室溫到200℃)(可用于厚膜鐵電、壓電(e31)、熱釋電測(cè)試)

薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)

-196℃到+600℃)(可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試)

 

壓電常數(shù)測(cè)試原理

15-加壓裝置絕緣座;2、4-加壓裝置引出電極; 3-試樣; c-并聯(lián)電容器 F3 -試加試樣上的力; K- 短路開關(guān);6、靜電計(jì)

 

熱釋電系數(shù)測(cè)試原理

1、冰點(diǎn);2、熱電偶;3、屏蔽溫度室;4、試樣;5、絕緣保溫層;6、積分電容;7、靜電計(jì);8、函數(shù)分析儀;9、加熱器;10、絕緣支架;11、絕緣油


 

高壓放大器

輸出形式:差分輸出

輸出帶寬:DC~150kHz

大輸出電壓:1600Vp-p(±800Vp)

大輸出電流:40mAp

大輸出功率:32W

 

選擇進(jìn)口TREK高壓放大器

Trek 610E
電壓范圍±10kV
電流范圍0-2mA
大頻率600Hz

Trek 609E-6
電壓范圍±4kV
電流范圍0-20mA
大頻率6000Hz

 

 

北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

|

手機(jī):18010122463

聯(lián)系人:魏工

電話:010-86460119

傳真:

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