美國XOS HD-Prime 臺式X射線熒光光譜儀用XOS高清晰光譜技術，測量玩具和兒童用品中的鉛以及其他有毒元素，可測量出微量成份。HD Prime分析儀采用光學分析技術，可分別測出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份。這種分析技術可測量目前和將來由CPSIA規(guī)定的含量。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面，既能快速定性檢測，又能定量分析。性能價格比高。

1. XOS 公司介紹：

◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射線光學系統(tǒng)公司) 總部位于美國紐約州*Albany, 為丹納赫水質(zhì)平臺子公司。

◆ XOS®是一家應用材料和元素分析設備供應商，為重視控制材料質(zhì)量與性能的行業(yè)監(jiān)管部門和客戶提供擁有技術的分析設備。

◆ XOS公司擁有的研發(fā)和設計能力，與美國的眾多研究機構(gòu)有合作關系，曾經(jīng)參與了許多課題設計，包括美國宇航局的行星元素探測計劃（XRF方法）等。

◆ XOS擁有X射線光學技術，能夠幫助客戶將測量靈敏性提高百倍，減少測量時間，提高空間分辨率，縮小設備尺寸，并且節(jié)約設備成本。

◆ XOS公司的光學晶體應用于大型波長色散型XRF、微區(qū)聚焦XRF、掃描電鏡等X射線儀器。XOS公司與其他著名的XRF生產(chǎn)廠商都有合作，提供給它們光學聚焦晶體。

◆ XOS公司具備HDXRF的技術——DCC，也是目前一家擁有自己技術的XRF生產(chǎn)廠商，其他品牌XRF的核心部件——X光管、濾光片、準直器等均為外購。

◆ XOS公司在元素分析領域有著技術應用，XOS公司與美國NASA下屬的JPL實驗室合作，研發(fā)了一款用于2020火星計劃的XRF元素分析儀

2. 主要技術參數(shù)和優(yōu)點：

1) 采用DCC®（雙曲面彎晶技術），取代傳統(tǒng)的濾光片和準直器，真正實現(xiàn)單色光激發(fā)樣品；

2) 檢測光斑1mm，適合測試不規(guī)則樣品和細小樣品；

3) 采用SDD硅漂移探測器，分辨率高，無需液氮冷卻；

4) 滿足美國ASTM F2853標準；

5) 可同時測試涂層與基材中的重金屬含量；

6) 采用基本參數(shù)法，可分析各類未知樣品；等等

美國XOS HD-Prime 臺式X射線熒光光譜儀

用于玩具和兒童用品

HD Prime用XOS*的高清晰光譜技術，測量玩具和兒童用品中的鉛以及其他有毒元素，可測量出微量成份。HD Prime分析儀采用光學分析技術，可分別測出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份。這種分析技術可測量目前和將來由CPSIA規(guī)定的含量。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面，既能快速定性檢測，又能定量分析。性能價格比高。測量是非破壞性的，不需要費錢耗時的樣品準備，而且不會損壞被測商品，已備復查。高清晰光譜儀使負責產(chǎn)品安全的行業(yè)和政府管理部門能夠快速、方便地檢測產(chǎn)品。

檢測鉛和其它有毒元素

應用領域

•玩具和兒童用品中多種有毒元素測量，符合CPSIA規(guī)定的要求

•快速定性定量分析有毒元素

•使用場合:工廠的生長線上和實驗室、第三方檢測實驗室、零售商、檢測部門

•符合ASTM F2853和F2617標準

性能和特點

•測定有毒元素（Pb，Sb，As，Ba，Cd，Cr，Hg，Se，Br，and CI)

•HD Prime 可分別測出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份

•1mm小面積分析，能檢測不規(guī)則形狀

•使用方便，可供工廠、實驗室使用，2小時培訓

•不需要樣品準備：無須剝離和浸煮涂層，從而不破壞產(chǎn)品結(jié)構(gòu)

•定性檢測模式：提供有毒元素快速檢測

•定量檢測模式：確定涂層和基底材料中元素成份