YH-E745高低溫恒溫恒溫試驗箱 溫濕度老化箱適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗。

YH-E745高低溫恒溫恒溫試驗箱 溫濕度老化箱規(guī)格與技術(shù)參數(shù):

高低溫試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗。

三、高低溫試驗箱性能指標(biāo):

1.溫度范圍: A:0℃～150℃，B:-20℃～150℃，C:-40℃～150℃，D:-60℃～150℃，E:-70℃～150℃

2.溫度波動度: ≤±0.5℃

3.溫度均勻度：≤±2℃

4.精度范圍: 設(shè)定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃

5.升溫速率: 1.0～3.0℃/min

6.降溫速率: 0.7～1.0℃/min

1、YH-E745高低溫恒溫恒溫試驗箱 溫濕度老化箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法；                GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法                   GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；                GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法；       
IEC60068-2-1：2007 低溫試驗箱試驗方法；              GJB150.4 低溫試驗；
IEC60068-2-2：2007 高溫試驗箱試驗方法；              GJB150.3 高溫試驗；
IEC68-2-1 試驗A：寒冷；                              IEC68-2-2 試驗B：干熱；