1996年以來，科美在半導(dǎo)體，平板顯示器，電子物質(zhì)，生命科學(xué)和化學(xué)分析上，研發(fā)和提供了*的，*的解決方案?？泼溃鳛闇y量和分析技術(shù)市場上的領(lǐng)頭和動力，以它突出的表現(xiàn)得到了世界范圍的認(rèn)可。

• 技術(shù)參數(shù)

• 活動范圍 150 x 120mm（70 x 50mm 移動距離）
  測量范圍 200?~ 35?（根據(jù)膜的類型）
  光斑尺寸 20? 典型值
  測量速度 1~2 sec./site
  應(yīng)用領(lǐng)域 聚合體: PVA, PET, PP, PR ...
  
  電解質(zhì): SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 ..
  
  半導(dǎo)體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
  
  選擇 參考樣品（K-MAC or KRISS or NIST）
  探頭類型 三目探頭
  nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
  照明類型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

• 主要特點(diǎn)

• 尺寸 190 x 265 x 316 mm
  重量 12Kg
  類型 手動的
  測量樣本大小 ≤ 4"
  測量方法 非接觸式
  測量原理 反射計
  特征 測量迅速，操作簡單
  
  非接觸式，非破壞方式
  
  優(yōu)秀的重復(fù)性和再現(xiàn)性
  
  用戶易操作界面
  
  每個影像打印和數(shù)據(jù)保存功能
  
  可測量多達(dá)3層
  
  可背面反射