菲希爾(Fischer)X射線熒光測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測量儀,用于快速、無損分析黃金和銀合金: X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量,菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器,用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯(17)到鈾(92)范圍內(nèi)可同時測定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
產(chǎn)品特點
? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計;
? 配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片,特別適用于貴金屬分析
? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),適用于更復(fù)雜的多元素分析
? 由下至上的測量方向,可以*簡便地實現(xiàn)樣品定位
| 典型應(yīng)用領(lǐng)域包括 ? 珠寶、貴金屬和牙科合金 ? 黃白色黃金 ? 鉑和銀 ? 銠 ? 合金和涂層分析 ? 多層涂層分析 | |
所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點是具有出色的精度和長期穩(wěn)定性。重新校準(zhǔn)的必要性大大降低,節(jié)省了時間和精力。現(xiàn)代硅漂移探測器實現(xiàn)了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數(shù)法允許在不進(jìn)行校準(zhǔn)的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導(dǎo)體探測器組件位于儀器的下部,因此測量方向從樣品下方開始,樣品由透明窗口支撐。