FISCHERSCOPE X-RAY儀器概述:
XAN®系列儀器的主要應(yīng)用是金和其他貴金屬合金的涂層厚度測量和分析,該系列產(chǎn)品以其易用性和*的性價比而脫穎而出。 過濾器可以根據(jù)要求進(jìn)行調(diào)整,從而可以為每種材料成分提供理想的測量儀器。所有FISCHERSCOPE X-RAY系統(tǒng)均具有出色的準(zhǔn)確性和長期穩(wěn)定性,大大減少了重新校準(zhǔn)的必要性,從而節(jié)省了時間和精力。FISCHER的基本參數(shù)方法可對固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)進(jìn)行分析,而無需校準(zhǔn)?,F(xiàn)代的硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度和良好的檢測靈敏度。
XAN 220和XAN 222設(shè)計為用戶友好的臺式儀器.XAN 222:手動操作XY工作臺,可精確定位小零件和較大的測量室。為了方便快速地進(jìn)行樣品定位,X射線源和半導(dǎo)體檢測器組件位于儀器的下腔室中。測量方向從樣品下面開始,并由透明窗口支撐。
| 典型的應(yīng)用領(lǐng)域是: • 珠寶,貴金屬和牙科合金 • 黃金和白金 • 鉑金和白銀 • 銠 • 合金和涂料 • 多層涂料 |
應(yīng)用:
鍍層厚度測量:
• 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層
• 時尚首飾:對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析
• 抗磨損鍍層,如:對化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測量
• 測試納米級基礎(chǔ)金屬化層(凸點下金屬化層,UBM)
材料分析:
• 測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度
• 專業(yè)實驗室、檢測機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析
• 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則,檢測電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)(例如重金屬)
• 功能性鍍層的成分,如測定化學(xué)鎳中的磷含量