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- 公司名稱 北京京科瑞達(dá)科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2020/7/2 10:22:15
- 訪問次數(shù) 690
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島津EDX-700HS二手X射線熒光光譜儀采用x射線聚光透鏡[集束毛細(xì)管透鏡],x射線只照射樣品的50μmφ微小領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)高靈敏度、高精度分析。
采用島津的x射線聚光透鏡[集束毛細(xì)管透鏡],x射線只照射樣品的50μmφ微小領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)高靈敏度、高精度分析。
可以在大氣中進(jìn)行從輕元素到重元素(na~u:μedx-1300;al~u:μedx-1200/1400)的分析。
配備雙ccd(高倍率,低倍率)攝像頭,可以在觀察樣品圖像的同時方便地決定分析位置,進(jìn)行分析。
標(biāo)準(zhǔn)配備無標(biāo)樣定量fp法、薄膜成分/膜厚分析用的薄膜fp法以及可以測定聚合物薄膜的背景基本參數(shù)(bg-fp)法。
作為微區(qū)x射線熒光光譜分析裝置,在世界上*配備了5種1次x射線濾光片自動交換機(jī)構(gòu),可消除來自x射線管的特征x射線,提高信噪比。
配備多元素同時/自動掃描成圖功能。采用高速掃描成圖,在短時間內(nèi)便可獲得圖像(μedx-1200/1300)。追加透射觀察單元(選購),也可進(jìn)行透射x射線的同時測定。
配備電子冷卻式高計(jì)數(shù)率檢測器。無需液氮,可進(jìn)行高精度分析。
可輕松地進(jìn)行電子材料/部件的鍍層膜厚測定、異物檢測、失效解析及成圖分析。
主機(jī)部分:
1、X射線發(fā)生器單元
X射線管
類型 Rh靶
冷卻方法 空冷(附風(fēng)扇)
2、X射線電源單元
電壓 5-50kV,每步1Kv(測定重金屬(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)時,可以用50kV。但測定輕元素時,15kV是***有效的。另在工作曲線法中,隨時可設(shè)定***佳電壓。)
電流 1-1000μA,每步1μA
穩(wěn)定度 ±0.01%(外電壓波動±10%)
保護(hù)電路 過電壓, 過電流, 過功率,
3、一次X射線濾波片 5種自動交換
特點(diǎn)說明:不同元素應(yīng)該采用不同的濾光片進(jìn)行分析,這樣才能有效降低背景,得到高準(zhǔn)確度的測量數(shù)據(jù)。EDX-720進(jìn)行元素分析時可以自動判斷元素和更換相應(yīng)的濾光片,無須手動更換
檢測器部分:
1、檢測器
類型 Si(Li)檢測器
液氮 只有在分析時添加
液氮消耗 少于1L/天
檢測面積 10mm2
分析元素 Na-U
分辨率 :小于150電子伏特
特點(diǎn)說明:采用液氮制冷方式的檢測器具有高分辨率,可以避免元素譜線之間的干擾,從而保證高準(zhǔn)確度的分析。在性能、實(shí)績、穩(wěn)定性上,Si(Li)半導(dǎo)體是對性的實(shí)績(島津檢測器是自己生產(chǎn),在萬一發(fā)生故障也迅速對應(yīng))。 掘場按振動檢測器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導(dǎo)體分辨率為220eV、在分析樹脂中的Cd、Pb時,容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時不能檢出,還有因?yàn)槭堑蛷?qiáng)度,在測試金屬中有害元素的感度也差。
2、計(jì)數(shù)單元
放大器
擬合時間 10μ秒
增益變化 高/低
多道分析器(MCA)
變頻型 順序比較ADC
道數(shù) 2048道
大計(jì)數(shù)率 232-1/道
樣品室與測定室部分:
1、樣品室
二手島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS,二手熒光光譜分析儀蓋子 自動開啟/關(guān)閉(帶安全系統(tǒng))
每次測定時蓋子自動上升與下降。
大樣品尺寸 300mm 直徑 x 150mm高
二手島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS,二手熒光光譜分析儀(特點(diǎn)說明:樣品室自動開啟,樣品蓋子的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)有效避免X光的泄露,滿足日本及中國X射線的泄露控制標(biāo)準(zhǔn)。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測試,無須切割)
2、測定室
X射線照射面積 下照射
光欄直徑 1、3、5、10mm可選
特點(diǎn)說明:不同的分析面積采用不同尺寸的光欄,可以保證各種大小樣品的高精度測試。
測定室開孔 13mm
3、測定氣氛:大氣
4、CCD觀察定位系統(tǒng)
配備CCD數(shù)碼觀察系統(tǒng),可以準(zhǔn)確定位分析區(qū)域。
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