電腦鍍層測(cè)試儀XAN310
XAN 310是一款用戶界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。緊湊型的設(shè)計(jì)使儀器輕量化并且只需要很小的空間。測(cè)量室的門并不是向上打開，而是向前。因此可以使用筆記本放置在儀器_上方進(jìn)行操作，來節(jié)省更多的空間。

設(shè)計(jì)理念：

XAN 310是一款用戶界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。緊湊型的設(shè)計(jì)使儀器輕量化并且只需要很小的空間。測(cè)量室的門并不是向上打開，而是向前。因此可以使用筆記本放置在儀器_上方進(jìn)行操作，來節(jié)省更多的空間。樣品定位簡(jiǎn)單便捷。X射線源和接收器都集成在儀器底部艙室中，因而樣品的底部是實(shí)際被測(cè)量面，而樣品本身則由一層透明的薄膜窗口托放在測(cè)量室中。
內(nèi)置可變焦視頻系統(tǒng)和定位十字線，可以方便、準(zhǔn)確地定位測(cè)量位置。通過功能強(qiáng)大、界面友好的WinFTM@軟件，可以在計(jì)算機(jī)上便捷地完成整個(gè)測(cè)量過程，以及測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。FISCHERSCOPE X-RAY XAN*DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)。

典型應(yīng)用領(lǐng)域

? 珠寶和手表行業(yè)金和貴金屬分析
? 測(cè)量幾個(gè)納米的超薄鍍層，如印刷線路板和電子元件上的Au和Pd。
? 痕量分析（如電子元件(RoHS)或工具中的有害物質(zhì)）
? 用XAN 150分析諸如Al，Si，P等輕元素
? 實(shí)驗(yàn)室，測(cè)試機(jī)構(gòu)和大學(xué)里一般性的材料分析和鍍層厚度測(cè)量

FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性價(jià)比的緊湊入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，用于快速、無損分析鍍層厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，特別適用于基本鍍層厚度及合金成分的無損分析。XAN310可以快速分析成分并用克拉顯示測(cè)量值，重量%或%o,其他合金成分也會(huì)同時(shí)得出。        FISCHERSCOPE@-X-RAY系統(tǒng)有著出色的精確性和良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器，節(jié)省時(shí)間和精力。由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量。