設備名稱：高低溫低氣壓試驗箱
型號：ASTD1000-70W
標稱內容積：可定制
溫度范圍：-70℃～+150℃
濕度范圍：設定：0%~100%；工作：25%~98%RH
壓力范圍：常壓～0.5kPa
降溫時間：+20℃→ -65℃，0.5℃/min≤0.5℃/min降溫速率線性變化（常壓、空載）
升溫時間：-70℃→150℃，0.5℃/min≤0.5℃/min 升溫速率線性變化（常壓、空載）
降

高低溫低氣壓試驗箱

高低溫低氣壓試驗箱

測試方法

GB/T5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法， 溫度試驗設備

GB/T5170.5-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法，濕熱試驗設備

GB/T5170. 10-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法，高低溫低氣壓試驗設備

滿足試驗標準

GB/T2423.1 2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫

GB/T2423.2 2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫

GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗

GJB150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗

GB/T2423. 21-91 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法

GB/T2423.25-92 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z-AM：低溫-低氣壓綜合試驗

GB/T2423.26-92 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z-BM：高溫-低氣壓綜合試驗