芯片高低溫實(shí)驗(yàn)箱 國標(biāo)條件
主要配置：
進(jìn)口法國”泰康”牌全封閉式壓縮機(jī),進(jìn)口TT-5166觸摸屏控制器,控制系統(tǒng)和冷凍系統(tǒng)主要均采用意大利、丹麥、中國臺灣或日本品牌配置。更多參數(shù)請東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司咨詢，我司還有立式可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱，大型恒溫恒濕試驗(yàn)箱、標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱、非標(biāo)恒溫恒濕試驗(yàn)箱等設(shè)備出售
安全功能：
1.獨(dú)立限超高溫報警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷運(yùn)行，并聲光報警提示操作者。保證實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行不發(fā)生意外。
2.壓縮機(jī)過熱、過流、過載保護(hù)，風(fēng)機(jī)過熱保護(hù)，缺水保護(hù)等。
3.可連接打印機(jī)或485通訊接口，具有USB數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移接口（U盤），用電腦顯示，并打印溫濕度和時間,方便的數(shù)據(jù)處理（選配)
4.控制器可以隨時導(dǎo)出曲線，為試驗(yàn)過程數(shù)據(jù)儲存與回放提供有力保證。
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GJB 150.3高溫試驗(yàn)
GJB 150.4低溫試驗(yàn)
IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷
IEC68-2-2 試驗(yàn)B：干熱
GB 11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB10586-1《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》
GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法》
等……
芯片高低溫實(shí)驗(yàn)箱 國標(biāo)條件
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)： GB10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》
GB2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》
GB2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變試驗(yàn)方法》
GB2424.1-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》
GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》
GB/T5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》
GB2423.3－2008試驗(yàn)C《恒定濕熱試驗(yàn)方法》;
GB2423.4－93試驗(yàn)D《交變濕熱試驗(yàn)方法》 |
箱體結(jié)構(gòu)
1 整個箱體采用整體結(jié)構(gòu)
2 箱體內(nèi)側(cè)采用1.0mm進(jìn)口SUS304B不銹鋼板，外側(cè)采用1.0mm 冷軋鋼板噴塑，保溫材料采用超細(xì)玻璃保溫棉。
3 大門密封采用雙層硅橡膠密封材料。
4 在箱體側(cè)面設(shè)有帶塞子的φ50mm測試孔，塞子材料為硅橡膠低發(fā)泡，能耐高低溫，兼具保溫效能。
5在箱體工作室后側(cè)設(shè)置有一個空氣調(diào)節(jié)柜，在其間安裝 加濕器、蒸發(fā)器、電加熱器、風(fēng)機(jī)、風(fēng)機(jī)蝸殼等設(shè)備。
6 溫度傳感器置于出風(fēng)口。
7試驗(yàn)箱內(nèi)的送風(fēng)方式為上送風(fēng)下回風(fēng)方式制冷系統(tǒng)
