美國LIGHTFORM公司“PHSI”場掃描高光譜，可獲取以下高光譜信息

● 暗場散射/Darkfield Scattering ● 熒光/PL ● 發(fā)光/Emission ● 透過率%/Transmission ● 反射率%/Reflection ● 吸收/Absorption

基本性能參數(shù)

● 安裝界面：安裝在大多數(shù)研究用的直立和倒置顯微鏡上

● 波長范圍：360-920nm同時進行 ● 光譜分辨率：~1nm@436nm ● 帕里斯成像光譜儀 ● 科學的CCD/CMOS光譜檢測器

● 觀測圖像科學CCD/CMOS ● 數(shù)據(jù)處理器，電控顯微鏡位移臺

● 定制的高光譜顯微鏡軟件 ● 可選NIST認證光源

● 包括一個MIDL校準燈，以驗證波長的準確性

● 可選氙氣光源用于暗場納米粒子表征

● 校準標準:可用的MIDL波長校準燈和“SYLPH”NIST認證的輻射光源

● 可在用戶現(xiàn)有顯微鏡上作為附件升級，或提供一個完整的系統(tǒng)

Special—創(chuàng)建參考光譜庫

● PARISS高光譜顯微鏡在視場(FOV)上獲得了成千上萬的光譜曲線

● PARISS軟件評估所有光譜并將其分類

● 一類可能是“背景光譜”，其余光譜將是目標物體

● 一些或全部光譜可以添加到參考光譜庫中

● 每個庫頻譜可由軟件或儀器用戶進行偽著色

● 所有或被選擇的光譜，從FOV與一個庫的光譜相關聯(lián)

● 然后將“畫”像素精度完美的灰度圖像的FOV

PARISS SWCCA高光譜軟件功能

● 邏輯運算符：在用戶定義的閾值下，“等于”和“不等于”，控制誤報或誤報的風險

● 用戶創(chuàng)建“真實生活”參考光譜庫

● 光譜地形圖繪制：繪制所有或某些目標對象在FOV中的位置

● SWCCA算法捕捉光譜剖面中表示變化的自然變化，例如:pH、離子濃度、電荷、構象

● 測量隨時間的變化：PARISS可以在用戶定義的時間段內(nèi)自動獲取光譜，可動態(tài)播放

● 觀察原始光譜：所有采集數(shù)據(jù)可以導出到第三方數(shù)據(jù)軟件或成像應用程序

● PARISS高光譜軟件利用線性光譜有關算法可讓操作與分析相當簡便

高光譜軟件創(chuàng)建參考光譜庫和光譜地形圖

● PARISS軟件采用線性無關的算法

● 利用house開發(fā)的專有算法：基于光譜波形互相關分析(SWCCA)

● 線性無關的SWCCA算法適應通常出現(xiàn)在生物樣本中的非線性光譜混合

● 高耐低信噪比光譜：能夠生成可靠的參考光譜庫

● 創(chuàng)建真正代表您的樣本的參考光譜庫

● 實現(xiàn)準確的光譜分割

● 使用PARISS獲得的標準光譜可以在吸收、透射/反射率方面進行標準化

● 發(fā)表準備光譜可以與在任何其他分析儀器上獲得的光譜進行比較

● 強大的地形映射：FOV中與庫光譜“相關”的光譜可以偽彩色，并 “繪制”到灰度圖像上，像素精度非常高

應用領域

● 高壓科學材料研究 ● 生物熒光/細胞研究 ● 納米材料分析

PARISS高光譜顯微鏡顯示細胞中的納米顆粒

用于描述組織切片中多個重疊的熒光團的高光譜顯微圖像

PARISS高光譜顯微鏡軟件建立的一個參考光譜庫