用于刮擦敏感、拋光及細小部件的 Portable Rockwell 硬度檢測儀。它通過微米級的細小穿透能力及的靈敏度。堅固的觸摸屏帶有增強的軟件應(yīng)用和分析功能。

于細小部件

尤其適合對刮擦敏感且拋光的部件或細小部件、剖面和管道?？煽坑捕茸x數(shù)所要求的低厚度是十倍壓入深度。對于質(zhì)量，沒有低要求。

適用于各種樣品幾何體

探頭可以利用*的測量夾和支撐腳對各種幾何體進行檢測。

硬度單位眾多

以 HRC 和 HV 為單位的測量可自動轉(zhuǎn)換為 HB、HRA、HRB 以及更多符合 ASTM E140 和 ISO 18265 標(biāo)準的通用單位。

適用于任何環(huán)境

Equotip 550 Portable Rockwell 可用于現(xiàn)場、工廠和實驗室環(huán)境，幾乎無任何限制。

Rockwell 測量原理

Equotip Portable Rockwell 的測量原理沿用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測法。使用 Equotip Portable Rockwell 探頭測量期間，使用準確的控制力將金剛石壓頭壓入待測件中。在施加負載并釋放的同時，連續(xù)測量金剛石壓頭的壓入深度。通過記錄施加兩個限定負載時的壓入深度 d1 和 d2 來計算差異：Δ = d2 – d1。這通常稱為塑性變形。

圓形標(biāo)準腳（磁性）
適用于扁平部件和邊緣距離大于 10mm 的檢測位置。

三腳架的腳
專為要求精確定位的檢測件（焊接、受熱區(qū)域）而設(shè)計。

特殊腳 RZ 18-70 和 70-∞
專為彎曲的測試件（例如圓柱形部件、管子、導(dǎo)管）而設(shè)計。

優(yōu)勢：

• 與 Leeb 和 UCI 相結(jié)合
• 與固定式 Rockwell 硬度檢測儀同樣可靠、準確和標(biāo)準化，但比之更快
• 內(nèi)置強大的報告功能，隨時準備好可用的數(shù)據(jù)資料