X射線光電子能譜儀 2018/07/30 X射線光電子能譜儀是新研發(fā)成功的一款ESCALAB 系列產(chǎn)品。ESCALAB Xi + 基于可擴(kuò)展功能、系統(tǒng)優(yōu)化以及多分析技術(shù)的集成化平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)了高靈活性和完備的專業(yè)配置選項(xiàng)。前沿技術(shù)、直觀的軟件操作以及硬件配置，帶給用戶的實(shí)驗(yàn)結(jié)果和生產(chǎn)力。數(shù)據(jù)系統(tǒng)提供系統(tǒng)控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理與系統(tǒng)運(yùn)行報(bào)告等一站式服務(wù)。 分析性能? 定量能譜成像? 快速平行成像，分辨率優(yōu)于1µm? 無需背底修正探測器? 靈敏度和能量分辨率? 微聚焦單色源? 元素化學(xué)成像分析? 自動(dòng)化高效離子剖析源? 一鍵式電荷補(bǔ)償 現(xiàn)代化操作? 高度自動(dòng)化– 分析區(qū)域和角度分辨可選– 自動(dòng)化氣體調(diào)節(jié)和真空控制? 隨時(shí)校準(zhǔn)– 能量的刻度和傳輸函數(shù)的校準(zhǔn)– 離子槍定位和離子束聚焦? 鼠標(biāo)點(diǎn)擊樣品導(dǎo)航和分析設(shè)置– 實(shí)時(shí)顯示分析位置– 高強(qiáng)度照明 靈活的設(shè)計(jì)? 標(biāo)配ISS和REELS功能? 標(biāo)配多功能進(jìn)樣室?UPS和AES/SEM/SAM/EDS功能可選? 可選的樣品預(yù)處理附件，包括：– 樣品......

X射線光電子能譜儀是新研發(fā)成功的一款ESCALAB 系列產(chǎn)品。ESCALAB Xi + 基于可擴(kuò)展功能、系統(tǒng)優(yōu)化以及多分析技術(shù)的集成化平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)了高靈活性和完備的專業(yè)配置選項(xiàng)。前沿技術(shù)、直觀的軟件操作以及硬件配置，帶給用戶的實(shí)驗(yàn)結(jié)果和生產(chǎn)力。數(shù)據(jù)系統(tǒng)提供系統(tǒng)控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理與系統(tǒng)運(yùn)行報(bào)告等一站式服務(wù)。

分析性能

? 定量能譜成像

? 快速平行成像，分辨率優(yōu)于1µm

? 無需背底修正探測器

? 靈敏度和能量分辨率

? 微聚焦單色源

? 元素化學(xué)成像分析

? 自動(dòng)化高效離子剖析源

? 一鍵式電荷補(bǔ)償

現(xiàn)代化操作

? 高度自動(dòng)化

– 分析區(qū)域和角度分辨可選

– 自動(dòng)化氣體調(diào)節(jié)和真空控制

? 隨時(shí)校準(zhǔn)

– 能量的刻度和傳輸函數(shù)的校準(zhǔn)

– 離子槍定位和離子束聚焦

? 鼠標(biāo)點(diǎn)擊樣品導(dǎo)航和分析設(shè)置

– 實(shí)時(shí)顯示分析位置

– 高強(qiáng)度照明

靈活的設(shè)計(jì)

? 標(biāo)配ISS和REELS功能

? 標(biāo)配多功能進(jìn)樣室

?UPS和AES/SEM/SAM/EDS功能可選

? 可選的樣品預(yù)處理附件，包括：

– 樣品斷裂臺(tái)、單晶解理、樣品刮片

– 樣品加熱/冷卻裝置

– 大面積清潔離子槍

– 高壓反應(yīng)室