便攜式背光反射計OBR 4200 描述 --> OBR4200是業(yè)界的便攜式超高分辨率背光反射計，可用來測試短程網(wǎng)絡。小體積的加固型平臺，易于攜帶，能夠以毫米級分辨率“查看”長達500米的光纖中的任何情況，并且沒有死區(qū)。利用業(yè)界的靈敏度和分辨率， OBR4200為制造商提供的現(xiàn)場光纖網(wǎng)絡檢查、診斷能力。

• ＜3毫米空間分辨率
• 500米測試長度內無死區(qū)
• -120dB的靈敏度
• 0.1dB的插損分辨率
• OBR4200為光纖模塊及短程網(wǎng)絡的制造商和安裝者提供了的現(xiàn)場診能力。

• 光纖或無源器件的故障定位及檢驗
• 光纖網(wǎng)絡故障的現(xiàn)場診斷及排查
• 光纖組件、連接器和短程網(wǎng)絡的品質檢驗
• 方便地定位及診斷光纖的彎曲、熔接、連接頭及斷裂等各類故障
• 定位各點的插損，可節(jié)省大量故障排查時間
• 光纖組件的多點位回損檢驗或光纖帶纜的同步檢驗
• 可用戶自定義的用于光纖組件合格檢驗的圖形界面軟件開發(fā)工具（GUI SDK）
• 光纖組件的自動檢驗
• 器件或模塊內溫度及應力的監(jiān)測

參數(shù)	規(guī)格指標		單位
大測量長度:
	0~500		meters
空間分辨率:
	低分辨率	高分辨率
事件分辨率1	＜50	＜3	Mm
采樣分辨率2	5	0.3	mm
中心波長3:
	1542±2		nm
回損:
動態(tài)范圍4	50		dB
總范圍	-10~-120		dB
靈敏度	-120		dB
分辨率5	± 0.2		dB
回損精度5	± 0.4		dB
插損:
動態(tài)范圍6	16		dB
分辨率5	± 0.1		dB
插損精度5	± 0.2		dB
掃描速度:
每次掃描前有2.6秒間隔時間	低分辨率	高分辨率
	0.01	0.12	s/m
光學輸出:
接口類型	FC/APC
輸出功率	10		W
輸出條件	標準單模光纖，可通過模式調節(jié)器來獲得多模輸出
環(huán)境:
工作溫度	0~40		℃
儲存溫度	-20~60		℃
規(guī)格(W*D*H)	360 x 320 x 170		mm
大功耗	50		W
電源7
電池續(xù)航時間	5		hr
電池充電時間	5		hr
規(guī)格重量
規(guī)格	8.5(L) x 10.7(W) x 3.85(H)		in
重量	9.8		lbs

所有參數(shù)適用于單模光纖。多模光纖的測量需要通過模式調節(jié)器來獲得。
松下的加固型計算機Touook-19的規(guī)格可以通過以下鏈接獲得：/business/touook/touook-products.asp#/19
1. 50米長的SMF-28e光纖中14.5dB的FWHM峰寬，峰寬隨著距離和模態(tài)分散的增加而增加。
2. 軸向上兩個采樣點之間的距離。
3. 掃描了以此為中心的3納米寬的波長范圍。
4. 比反射大-30dB和背景噪聲之間的范圍。
5. 2米整合寬度下的測量。
6. 在散射達到背景噪聲前的可允許的雙程損耗和插損的測量將不再可能。
7. 便攜計算機的電池續(xù)航能力及充電時間，請參看便攜計算機的數(shù)據(jù)手冊。